[实用新型]一种用于单IC测试的通用治具

摘要

本实用新型公开了一种用于单IC测试的通用治具，包括底座和上压板，所述上压板铰接在所述底座的上端面，还包括多块根据不同IC的形状设置的IC固定板，所述IC固定板上设有与IC形状相适配的固定孔，所述底座上设有通孔，所述多块IC固定板根据IC的形状选择其中与所述IC相匹配的一块可拆卸安装在所述通孔内，所述底座的下端面设有PCB转接板，所述PCB转接板的一端设有多根依照IC上的焊盘排布的测针，所述测针穿过所述固定孔，所述上压板上与所述通孔对应的位置设有与所述通孔形状相适配的压块。本实用新型适用于多种形状的IC的测试，节省了成本。

主权项

1.一种用于单IC测试的通用治具，包括底座(1)和上压板(5)，所述上压板(5)铰接在所述底座(1)的上端面，其特征在于：还包括多块根据不同IC的形状设置的IC固定板，所述IC固定板上设有与IC形状相适配的固定孔，所述底座(1)上设有通孔，所述多块IC固定板根据IC的形状选择其中与所述IC相匹配的一块可拆卸安装在所述通孔内，所述底座(1)的下端面设有PCB转接板(7)，所述PCB转接板(7)的一端设有多根依照IC上的焊盘排布的测针(8)，所述测针(8)穿过所述固定孔，所述上压板(5)上与所述通孔对应的位置设有与所述通孔形状相适配的压块(4)。