[实用新型]一种用于单IC测试的通用治具

权利要求书

1.一种用于单IC测试的通用治具，包括底座(1)和上压板(5)，所述上压板(5)铰接在所述底座(1)的上端面，其特征在于：还包括多块根据不同IC的形状设置的IC固定板，所述IC固定板上设有与IC形状相适配的固定孔，所述底座(1)上设有通孔，所述多块IC固定板根据IC的形状选择其中与所述IC相匹配的一块可拆卸安装在所述通孔内，所述底座(1)的下端面设有PCB转接板(7)，所述PCB转接板(7)的一端设有多根依照IC上的焊盘排布的测针(8)，所述测针(8)穿过所述固定孔，所述上压板(5)上与所述通孔对应的位置设有与所述通孔形状相适配的压块(4)。

2.根据权利要求1所述的一种用于单IC测试的通用治具，其特征在于：所述多块根据不同IC的形状设置的IC固定板包括矩形IC固定板(12)、圆形IC固定板(3)和椭圆形IC固定板(11)，所述矩形IC固定板(12)上设有矩形固定孔，所述圆形IC固定板(3)上设有圆形固定孔，所述椭圆形IC固定板(11)上设有椭圆形固定孔。

3.根据权利要求1所述的一种用于单IC测试的通用治具，其特征在于：还包括上压板固定装置，所述上压板固定装置包括施力块(9)、弹簧(10)、旋转轴(13)、卡扣(2)和卡块(6)，所述施力块(9)垂直设置在所述卡扣(2)的一端，所述底座(1)上设有安装槽，所述卡扣(2)通过所述旋转轴(13)铰接在所述安装槽内，所述弹簧(10)一端和所述卡扣(2)连接，所述弹簧(10)的另一端和所述安装槽的底部连接，所述卡块(6)设置在所述上压板(5)上与所述卡扣(2)对应的位置上。