[实用新型]PIM多封装扫描测试装置有效

专利信息
申请号: 201821203798.X 申请日: 2018-07-27
公开(公告)号: CN208432696U 公开(公告)日: 2019-01-25
发明(设计)人: 郭胜岩;杜浩晨;罗景涛;张强 申请(专利权)人: 陕西开尔文测控技术有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 西安佩腾特知识产权代理事务所(普通合伙) 61226 代理人: 李思源
地址: 710118 陕西省西安市*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 实用新型涉及一种PIM多封装扫描测试装置,包括PIM拓扑电路,所述PIM拓扑电路包括多组并联连接的被测元器件组,通过在被测元器件的输入、输出端上分别加装总集电极控制继电器、总发射极控制继电器、栅极分控继电器、正向加压控制继电器以及反向加压控制继电器,通过正向加压控制继电器以及反向加压控制继电器的吸合改变电流方向,进而改变被测元器件组的正负极,依次吸合、断开相应被测器件所对应的继电器,只需要在C测试端、E测试端、G测试端检测就可进行一次性全自动依次扫描测量所有被测元器件,可省去人工手动步进的工序,测试时间也可大大提高。
搜索关键词: 继电器 加压控制 元器件 测试端 扫描测试装置 拓扑电路 吸合 正向 封装 多组并联连接 本实用新型 发射极控制 控制继电器 被测器件 电流方向 人工手动 扫描测量 总集电极 输出端 一次性 正负极 步进 分控 加装 断开 测试 检测
【主权项】:
1.一种PIM多封装扫描测试装置,包括PIM拓扑电路,所述PIM拓扑电路包括多组并联连接的被测元器件组,每组被测元器件组包括至少两个并联连接的被测元器件,其中一组被测元器件的集电极并联连接在C测试端,相对应的另一组被测元器件的发射极并联连接在E测试端,其特征在于,在C测试端上设置有总集电极控制继电器,在E测试端设置有总发射极控制继电器,两组被测元器件之间设置有加压控制继电器组,所述加压控制继电器组的一端连接在两组被测元器件之间的中间连接节点上,另一端连接在C测试端或者E测试端,通过加压控制继电器组改变被测元器件组的正负极。
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