[实用新型]发光器件发散角测试装置及测试一体机有效
申请号: | 201821181890.0 | 申请日: | 2018-07-24 |
公开(公告)号: | CN208795190U | 公开(公告)日: | 2019-04-26 |
发明(设计)人: | 刘振辉;王业文;颜华江;杨波 | 申请(专利权)人: | 深圳市矽电半导体设备有限公司 |
主分类号: | G01B11/26 | 分类号: | G01B11/26;G01M11/02 |
代理公司: | 北京维正专利代理有限公司 11508 | 代理人: | 任志龙 |
地址: | 518172 广东省深圳市龙岗区龙城*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本实用新型公开了一种发光器件发散角测试装置及测试一体机,包括机座,所述机座上设有用于承载被测发光件的载片台、用于与被测发光件电极接触的测试针、用于对被测发光件导通时发光面的截面大小信息进行采集的采集组件、以及用于驱动所述采集组件靠近或远离所述载片台的驱动机构,所述驱动机构上设有用于测量所述采集组件移动距离的测量件,驱动机构可驱动采集组件纵向移动以靠近或远离测试位置,采集组件分别采集两个不同位置被测发光件导通时发光面的截面大小信息,得出光束两个不同截面的边缘位置;同时,通过测量件测量上述两个截面的高度差,从而计算出其夹角,即为该被测发光件的远场发散角,结构简单,且远场发散角的测试更加精准。 | ||
搜索关键词: | 采集组件 发光件 驱动机构 发散角测试 远场发散角 大小信息 发光器件 测量件 一体机 测试 导通 机座 发光 测量 采集 本实用新型 驱动 边缘位置 测试位置 电极接触 测试针 高度差 载片台 承载 | ||
【主权项】:
1.一种发光器件发散角测试装置,其特征是:包括机座(1),所述机座(1)上设有用于承载被测发光件的载片台(2)、用于与被测发光件电极接触的测试针(3)、用于对被测发光件导通时发光面的截面大小信息进行采集的采集组件、以及用于驱动所述采集组件靠近或远离所述载片台(2)的驱动机构,所述驱动机构上设有用于测量所述采集组件移动距离的测量件。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳市矽电半导体设备有限公司,未经深圳市矽电半导体设备有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201821181890.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种用于混凝土试件的角度测量装置
- 下一篇:一种偏移机检测装置