[实用新型]倒装发光器件同侧测试承载盘、测试系统及测试设备有效

专利信息
申请号: 201821181439.9 申请日: 2018-07-24
公开(公告)号: CN208420345U 公开(公告)日: 2019-01-22
发明(设计)人: 刘振辉;沈杰 申请(专利权)人: 深圳市矽电半导体设备有限公司
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 北京维正专利代理有限公司 11508 代理人: 任志龙
地址: 518172 广东省深圳市龙岗区龙城*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 实用新型公开了一种倒装发光器件同侧测试承载盘、测试系统及测试设备,旨在解决晶圆片与常见承载盘装配不方便的问题,其技术方案要点是,多个所述倒装发光器件集成于一体以形成晶圆片,所述晶圆片粘附于一透光膜上,所述承载盘包括:盘体,所述盘体的上表面的部分区域设置有反光面,所述盘体的上表面还有若干围绕所述反光面布置的吸附孔,所述吸附孔用于吸附固定所述透光膜;以及设置于所述盘体的下表面的、用于外接负气压系统的、与所述吸附孔相连通的气嘴接头。晶圆片与该承载盘通过吸附方式固定,达到固定晶圆片的过程更加便捷的目的。
搜索关键词: 承载盘 晶圆片 盘体 发光器件 吸附孔 倒装 测试设备 测试系统 反光面 上表面 透光膜 同侧 技术方案要点 本实用新型 测试 气嘴接头 区域设置 吸附固定 负气压 下表面 外接 吸附 粘附 装配
【主权项】:
1.一种倒装发光器件同侧测试承载盘,其特征在于,多个所述倒装发光器件集成于一体以形成晶圆片(4),所述晶圆片(4)粘附于一透光膜(3)上,所述承载盘(22)包括:盘体(221),所述盘体(221)的上表面的部分区域设置有反光面,所述盘体(221)的上表面还有若干围绕所述反光面布置的吸附孔(2211),所述吸附孔(2211)用于吸附固定所述透光膜(3);以及设置于所述盘体(221)的下表面的、用于外接负气压系统(1)的、与所述吸附孔(2211)相连通的气嘴接头(222)。
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