[实用新型]一种射频芯片测试装置有效
| 申请号： | 201821050241.7 | 申请日： | 2018-07-03 |
| 公开（公告）号： | CN208432693U | 公开（公告）日： | 2019-01-25 |
| 发明（设计）人： | 韩一博;徐春阳;盛洪宇 | 申请（专利权）人： | 上海安费诺永亿通讯电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R1/04 |
| 代理公司： | 上海汉声知识产权代理有限公司 31236 | 代理人： | 胡晶 |
| 地址： | 201108 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种射频芯片测试装置，包括：电源，为所述芯片测试装置和待测射频芯片提供电能；切换开关，与所述电源串联，用于在高电平与低电平之间进行切换；测试基座，与所述电源和所述切换开关串联，用于安装被测射频芯片；其中，所述切换开关为单刀双掷开关，以便于快速改变接入被测射频芯片中的电平状态。所述电源包括一选择开关以及串联连接的第一电源、第二电源，所述第一电源和第二电源之间设置有一引线，所述选择开关为单刀双掷开关，用于选择接入测试电路的电源。所述射频芯片测试装置还包括一信号指示灯，与所述电源和所述切换开关串联，用于指示被测射频芯片的工作状态。 | ||
| 搜索关键词： | 电源 切换开关 射频芯片 射频芯片测试 单刀双掷开关 串联 芯片测试装置 本实用新型 信号指示灯 测试电路 测试基座 电平状态 电源串联 低电平 高电平 | ||
【主权项】：
1.一种射频芯片测试装置，其特征在于，包括：电源，为所述射频芯片测试装置和待测射频芯片提供电能；切换开关，与所述电源串联，用于在高电平与低电平之间进行切换；测试基座，与所述电源和所述切换开关串联，用于安装被测射频芯片；其中，所述切换开关为单刀双掷开关，以便于快速切换接入被测射频芯片的电平状态。
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