[实用新型]一种射频芯片测试装置

说明书

本实用新型公开了一种射频芯片测试装置，包括：电源，为所述芯片测试装置和待测射频芯片提供电能；切换开关，与所述电源串联，用于在高电平与低电平之间进行切换；测试基座，与所述电源和所述切换开关串联，用于安装被测射频芯片；其中，所述切换开关为单刀双掷开关，以便于快速改变接入被测射频芯片中的电平状态。所述电源包括一选择开关以及串联连接的第一电源、第二电源，所述第一电源和第二电源之间设置有一引线，所述选择开关为单刀双掷开关，用于选择接入测试电路的电源。所述射频芯片测试装置还包括一信号指示灯，与所述电源和所述切换开关串联，用于指示被测射频芯片的工作状态。

技术领域

本实用新型涉及电子电路领域，尤其涉及一种测试天线用的射频芯片测试装置。

背景技术

随着手机支持的频段的逐步扩展，对手机天线能够支持的频段要求越来越宽，故现在很多天线采取了利用switch或者tunner相关芯片来扩展天线所支持的频段，从而导致天线调试过程中不可避免的需要对相关芯片提供其所需的电平信号来进行天线的性能调试。传统提供相应电平信号的方法是利用干电池供电，通过焊接等方法实现电路的通断以及高低电平信号之间的切换。但传统为芯片供电的电池加导线焊接的方式使得电池或电池盒体积较大，导线分布分散，很容易对所调试的天线的效率造成不必要的影响，从而导致测试的结果不准确，影响工作人员对天线状况的判断。

实用新型内容

本实用新型旨在为天线工程师在调试上述射频芯片方案过程中提供一种便捷且稳定测试装置，从而能够稳定快捷的对相关芯片进行控制且能够观察到目前的电平信号状态，以期提高天线工程师的工作效率。

为实现上述目的，本实用新型提供以下技术方案：

一种射频芯片测试装置，包括：

电源，为所述射频芯片测试装置和待测射频芯片提供电能；

切换开关，与所述电源串联，用于在高电平与低电平之间进行切换；

测试基座，与所述电源和所述切换开关串联，用于安装被测射频芯片；

其中，所述切换开关为单刀双掷开关，以便于快速切换接入被测射频芯片的电平状态。

在一些具体实施例中，所述电源包括一选择开关以及串联连接的第一电源、第二电源，所述第一电源和第二电源之间设置有一引线，所述选择开关为单刀双掷开关，用于选择接入测试电路的电源。

在一些具体实施例中，所述电源包括一第一指示灯，并联设置在第一电源或第二电源两侧，用于显示接入的电源情况。

在一些具体实施例中，所述第一指示灯串联一分压电阻，用于使所述指示灯处于额定电压状态。

在一些具体实施例中，所述电源包括一选择开关以及并联连接的第一电源和第二电源，所述第一电源和第二电源电压不等，所述选择开关为单刀双掷开关，用于选择接入测试电路的电源。

在一些具体实施例中，所述电源包括一第二指示灯，与所述第一电源或第二电源串联连接，用于显示接入的电源情况。

在一些具体实施例中，所述指示灯串联一分压电阻，用于使所述指示灯处于额定电压状态。

在一些具体实施例中，所述射频芯片测试装置还包括一信号指示灯，与所述电源和所述切换开关串联，用于指示被测射频芯片的工作状态。

在一些具体实施例中，所述电源为纽扣电池，所述纽扣电池安装在一电源座内，所述电源座与所述检测电路连接。

在一些具体实施例中，所述连接电路集成设置在一PCB电路板上。

通过采用上述技术方案，使其与现有技术相比具有以下有益效果：