[实用新型]一种大电流特殊管脚芯片测试插座有效

专利信息
申请号: 201820952483.9 申请日: 2018-06-20
公开(公告)号: CN208432692U 公开(公告)日: 2019-01-25
发明(设计)人: 甘贞龙;贺涛;王传刚 申请(专利权)人: 法特迪精密科技(苏州)有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 无锡市汇诚永信专利代理事务所(普通合伙) 32260 代理人: 张欢勇
地址: 215000 江苏省苏州*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 实用新型涉一种本大电流特殊管脚芯片测试插座,其包括用于压紧芯片的测试盖,用于定位芯片、收集接地信号的测试座,用于接收管脚测试信号的PCB板和用于收集管脚信号的支撑座,其中,所述测试座、PCB板上开有位置相匹配的、供芯片管脚通过的通孔;所述测试座上设有若干电流测试针,所述电流测试针上下两端分别延伸至测试座上的通孔上、下沿;所述支撑座于通孔投影位置设有与芯片管脚位置相匹配的若干插孔铜柱,所述PCB板焊接在所述支撑座上表面,所述插孔铜柱延伸至所述PCB板上的通孔上沿。本大电流特殊管脚芯片测试插座能够对大电流特殊管脚芯片进行有效的定位和测试,且具有散热速度快、接触可靠性高,测试稳定性好等优点。
搜索关键词: 测试座 大电流 管脚 通孔 芯片测试插座 电流测试 芯片管脚 支撑座 插孔 铜柱 匹配 芯片 支撑座上表面 本实用新型 测试稳定性 接触可靠性 测试 测试信号 定位芯片 接地信号 上下两端 投影位置 接收管 收集管 散热 延伸 下沿 压紧
【主权项】:
1.一种大电流特殊管脚芯片测试插座,其特征是:该测试插座自上而下依次包括用于压紧芯片的测试盖(1),用于定位芯片、收集接地信号的测试座(2),用于接收管脚测试信号的PCB板(3)和用于收集管脚信号的支撑座(4),其中,所述测试座(2)、PCB板(3)上开有位置相匹配的、供芯片管脚通过的通孔(5);所述测试座(2)上设有若干电流测试针(6),所述电流测试针(6)上下两端分别延伸至测试座(2)上的通孔(5)上、下沿;所述支撑座(4)于通孔(5)投影位置设有与芯片管脚位置相匹配的若干插孔铜柱(7),所述PCB板(3)焊接在所述支撑座(4)上表面,所述插孔铜柱(7)延伸至所述PCB板(3)上的通孔(5)上沿。
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