[实用新型]一种大电流特殊管脚芯片测试插座

权利要求书

1.一种大电流特殊管脚芯片测试插座，其特征是：该测试插座自上而下依次包括用于压紧芯片的测试盖(1)，用于定位芯片、收集接地信号的测试座(2)，用于接收管脚测试信号的PCB板(3)和用于收集管脚信号的支撑座(4)，其中，

所述测试座(2)、PCB板(3)上开有位置相匹配的、供芯片管脚通过的通孔(5)；

所述测试座(2)上设有若干电流测试针(6)，所述电流测试针(6)上下两端分别延伸至测试座(2)上的通孔(5)上、下沿；

所述支撑座(4)于通孔(5)投影位置设有与芯片管脚位置相匹配的若干插孔铜柱(7)，所述PCB板(3)焊接在所述支撑座(4)上表面，所述插孔铜柱(7)延伸至所述PCB板(3)上的通孔(5)上沿。

2.根据权利要求1所述的大电流特殊管脚芯片测试插座，其特征是：所述测试座(2)于通孔(5)两侧对称开有两排针孔(201)，所述电流测试针(6)固定在所述针孔(201)内。

3.根据权利要求2所述的大电流特殊管脚芯片测试插座，其特征是：所述PCB板(3)于电流测试针(6)位置设有沉金带(301)。

4.根据权利要求3所述的大电流特殊管脚芯片测试插座，其特征是：所述测试盖(1)两侧对称开有两个侧槽(101)。

5.根据权利要求3所述的大电流特殊管脚芯片测试插座，其特征是：所述测试盖(1)上部平行开有两个顶槽(102)。

6.根据权利要求1所述的大电流特殊管脚芯片测试插座，其特征是：所述测试盖(1)两侧对称设有一对用于卡扣所述测试座(2)的扣件(103)，两扣件(103)上设有捏柄(104)，并于捏柄(104)端部设有若干防滑凸纹(105)。