[实用新型]一种基于高中物理实验的质量测量天平

摘要

本实用新型公开了一种基于高中物理实验的质量测量天平，包括天平主体，所述天平主体的底端设置有底座，且底座的底端外表面固定安装有调节支脚，所述底座的上端外表面固定安装有水平仪，且水平仪的一侧固定安装有安装座，所述安装座的上端外表面中心处固定安装有分度盘，且分度盘的前端外表面活动安装有指针，所述分度盘的两侧均设置有垫脚，且垫脚的上方固定安装有托盘，所述分度盘的前端固定安装有标尺。本实用新型所述的一种基于高中物理实验的质量测量天平，设有水平仪、滑槽和刻度线，能够方便对天平主体的整体位置进行水平调节，并且能够方便游码的滑动，最后能够在调节平衡时更加迅速方便，带来更好的使用前景。

主权项

1.一种基于高中物理实验的质量测量天平，包括天平主体(1)，其特征在于：所述天平主体(1)的底端设置有底座(2)，且底座(2)的底端外表面固定安装有调节支脚(3)，所述底座(2)的上端外表面固定安装有水平仪(4)，且水平仪(4)的一侧固定安装有安装座(5)，所述安装座(5)的上端外表面中心处固定安装有分度盘(6)，且分度盘(6)的前端外表面活动安装有指针(7)，所述分度盘(6)的两侧均设置有垫脚(8)，且垫脚(8)的上方固定安装有托盘(9)，所述分度盘(6)的前端固定安装有标尺(10)，且标尺(10)的上端外表面设置有滑槽(11)，所述标尺(10)的外表面活动安装有游码(12)，且游码(12)的内部活动安装有滑轮(13)，所述分度盘(6)后端外表面固定安装有螺丝杠(14)，且螺丝杠(14)的两端外表面均活动安装有平衡螺母(15)，所述螺丝杠(14)两端的上端外表面处设置有刻度线(16)。