[实用新型]一种基于高中物理实验的质量测量天平有效
申请号: | 201820118668.X | 申请日: | 2018-01-24 |
公开(公告)号: | CN207779518U | 公开(公告)日: | 2018-08-28 |
发明(设计)人: | 代孟岩 | 申请(专利权)人: | 代孟岩 |
主分类号: | G01G1/24 | 分类号: | G01G1/24;G01G1/26;G01G23/00;G01G21/00;G09B23/06 |
代理公司: | 杭州云睿专利代理事务所(普通合伙) 33254 | 代理人: | 张骁敏 |
地址: | 300000 河*** | 国省代码: | 河北;13 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 分度盘 高中物理实验 天平主体 质量测量 底座 垫脚 本实用新型 上端外表面 天平 安装座 水平仪 底端 前端外表面 托盘 活动安装 水平调节 整体位置 刻度线 中心处 滑动 滑槽 游码 支脚 标尺 指针 平衡 | ||
本实用新型公开了一种基于高中物理实验的质量测量天平,包括天平主体,所述天平主体的底端设置有底座,且底座的底端外表面固定安装有调节支脚,所述底座的上端外表面固定安装有水平仪,且水平仪的一侧固定安装有安装座,所述安装座的上端外表面中心处固定安装有分度盘,且分度盘的前端外表面活动安装有指针,所述分度盘的两侧均设置有垫脚,且垫脚的上方固定安装有托盘,所述分度盘的前端固定安装有标尺。本实用新型所述的一种基于高中物理实验的质量测量天平,设有水平仪、滑槽和刻度线,能够方便对天平主体的整体位置进行水平调节,并且能够方便游码的滑动,最后能够在调节平衡时更加迅速方便,带来更好的使用前景。
技术领域
本实用新型涉及物理教具领域,特别涉及一种基于高中物理实验的质量测量天平。
背景技术
天平是一种衡器,由支点或轴在梁的中心支着天平梁而形成两个臂,每个臂上挂着一个盘,其中一个盘里放着已知重量的物体,另一个盘里放待称重的物体,固定在梁上的指针在不摆动且指向正中刻度时的偏转就指示出待称重物体的重量,详细解释利用作用在物体上的重力以平衡原理测定物体质量,或确定作为质量函数的其他量值、参数或特性的仪器;现有的质量测量天平在使用时存在一定的弊端,首先,难以调节质量测量天平的整体水平,并且在调节水平时较为缓慢,大大浪费实验时间,最后在质量测量时,游码的调节不够方便,使用时精确度不高,操作比较麻烦,给人们的使用过程带来了一定的影响,为此,我们提出一种基于高中物理实验的质量测量天平。
实用新型内容
本实用新型的主要目的在于提供一种基于高中物理实验的质量测量天平,可以有效解决背景技术中的问题。
为实现上述目的,本实用新型采取的技术方案为:
一种基于高中物理实验的质量测量天平,包括天平主体,所述天平主体的底端设置有底座,且底座的底端外表面固定安装有调节支脚,所述底座的上端外表面固定安装有水平仪,且水平仪的一侧固定安装有安装座,所述安装座的上端外表面中心处固定安装有分度盘,且分度盘的前端外表面活动安装有指针,所述分度盘的两侧均设置有垫脚,且垫脚的上方固定安装有托盘,所述分度盘的前端固定安装有标尺,且标尺的上端外表面设置有滑槽,所述标尺的外表面活动安装有游码,且游码的内部活动安装有滑轮,所述分度盘后端外表面固定安装有螺丝杠,且螺丝杠的两端外表面均活动安装有平衡螺母,所述螺丝杠两端的上端外表面处设置有刻度线。
优选的,所述垫脚、托盘与平衡螺母的数量均为两组,且垫脚的上端为橡胶棒,且垫脚底端外表面与安装座固定连接。
优选的,所述调节支脚的数量为四组,且调节支脚位于底座外表面的四角边缘处,且调节支脚的上端外表面与底座的下端外表面固定连接,所述调节支脚的上端为伸缩杆,且调节支脚的一侧设置有紧固旋钮。
优选的,所述滑槽的形状为凹形槽,且滑槽的宽度与滑轮的宽度相等,所述滑轮与滑槽活动连接。
优选的,所述水平仪的形状为圆形,且水平仪与底座固定连接。
优选的,所述指针的底端设置有转轴,且指针与转轴固定连接,转轴与分度盘活动连接。
与现有技术相比,本实用新型具有如下有益效果:该基于高中物理实验的质量测量天平,通过设置的水平仪,能够在对天平主体进行放置时,通过观察水平仪内部,能够方便操作在通过底座下端外表面的调节支脚进行高度调节,从而使得天平主体处于水平状态,便于实验的进行,通过设置的滑槽,能够在对物体进行测量时,利用游码内部的滑轮与标尺上端外表面的滑槽进行活动连接,使得游码在调节过程中更加方便,精准,有利于实验的进行,通过设置的刻度线,能够在天平主体水平调节的过程中,通过刻度线能够使得螺丝杠两端的平衡螺母能够迅速达到平衡状态,使得实验过程更加迅速的完成,比较实用,整个质量测量天平结构简单,操作方便,使用的效果相对于传统方式更好。
附图说明
图1为本实用新型一种基于高中物理实验的质量测量天平的整体结构示意图。
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