[实用新型]用于光学元件性能检测的试验台

摘要

本实用新型属于光学元件性能检测设备技术领域，具体涉及一种用于光学元件性能检测的试验台。该试验台包括基座和工件台，所述基座用于支撑所述工件台并能够带动所述工件台共同移动，所述工件台上设有横向调节单元，所述基座包括支撑板，所述支撑板的下方设有可移动单元，所述可移动单元和所述支撑板之间设有高度调节单元，所述支撑板的上方的两个对称面上设有纵向调节单元，所述试验台的左、右两侧机架上均设有纵向限位单元。通过使用本实用新型所述的用于光学元件性能检测的试验台，能够为工件台提供一个可调节的安装基准面，同时装置本身具有能够实现平移运动，在工件台搬运过程中无需借助外部工具，简化了搬运过程。

主权项

1.用于光学元件性能检测的试验台，其特征在于，包括基座和工件台，所述基座用于支撑所述工件台并能够带动所述工件台共同移动，所述工件台的两个相反的侧面上设有横向调节单元，所述基座包括支撑板，所述支撑板的下方设有可移动单元，所述可移动单元和所述支撑板之间设有高度调节单元，所述支撑板的上方设有纵向调节单元，所述试验台的左、右两侧机架上均设有纵向限位单元，当所述基座和所述工件台移动到所述试验台的左、右两侧机架之间时，所述支撑板能够与所述纵向限位单元相贴合，通过调节所述高度调节单元来降低所述支撑板的高度，能够使所述支撑板贴靠在所述试验台的左、右两侧机架之间的高度限位单元上，通过调节所述纵向调节单元能够调节所述工件台在水平面内的纵向位置，通过调节所述横向调节单元能够调节所述工件台在水平面内的横向位置。