[实用新型]用于光学元件性能检测的试验台

权利要求书

1.用于光学元件性能检测的试验台，其特征在于，包括基座和工件台，所述基座用于支撑所述工件台并能够带动所述工件台共同移动，所述工件台的两个相反的侧面上设有横向调节单元，所述基座包括支撑板，所述支撑板的下方设有可移动单元，所述可移动单元和所述支撑板之间设有高度调节单元，所述支撑板的上方设有纵向调节单元，所述试验台的左、右两侧机架上均设有纵向限位单元，当所述基座和所述工件台移动到所述试验台的左、右两侧机架之间时，所述支撑板能够与所述纵向限位单元相贴合，通过调节所述高度调节单元来降低所述支撑板的高度，能够使所述支撑板贴靠在所述试验台的左、右两侧机架之间的高度限位单元上，通过调节所述纵向调节单元能够调节所述工件台在水平面内的纵向位置，通过调节所述横向调节单元能够调节所述工件台在水平面内的横向位置。

2.根据权利要求1所述的用于光学元件性能检测的试验台，其特征在于，所述可移动单元为滚轮。

3.根据权利要求2所述的用于光学元件性能检测的试验台，其特征在于，所述高度调节单元包括滚轮支架、高度调节螺母和锁紧螺母，所述滚轮通过所述滚轮支架连接于所述支撑板的下方，所述高度调节螺母设于所述滚轮支架的下方，用于调节所述滚轮支架的高度，所述锁紧螺母设于所述滚轮支架的上方，用于锁紧所述滚轮支架并固定所述滚轮支架的高度。

4.根据权利要求1所述的用于光学元件性能检测的试验台，其特征在于，所述纵向调节单元包括纵向固定板和纵向调节螺钉，所述纵向固定板为L型固定板，所述纵向固定板的一个板面垂直于所述支撑板的上表面，所述纵向固定板的另一个板面与所述支撑板的上表面相贴合并通过螺栓连接固定于所述支撑板的上表面，所述纵向调节螺钉设于所述纵向固定板的所述一个板面上，通过调节所述纵向调节螺钉能够调节所述工件台在水平面内的纵向位置。

5.根据权利要求1-4中任一项所述的用于光学元件性能检测的试验台，其特征在于，所述横向调节单元包括横向调节螺钉和横向调节支架，所述横向调节支架设于所述工件台的两个相反的侧面上，所述横向调节支架上设有横向调节螺钉，所述横向调节螺钉的伸出端能够与所述机架相贴合，通过调节所述横向调节螺钉的伸出长度来调整所述工件台在水平面内的横向位置。

6.根据权利要求1-4中任一项所述的用于光学元件性能检测的试验台，其特征在于，所述试验台的机架上还设有锁紧支架，所述锁紧支架上设有锁紧螺钉，通过旋紧所述锁紧螺钉能够将所述工件台在竖直方向内的高度进行固定。

7.根据权利要求1-4中任一项所述的用于光学元件性能检测的试验台，其特征在于，所述机架的下方设有用于对所述机架进行减震的隔振器。

8.根据权利要求1-4中任一项所述的用于光学元件性能检测的试验台，其特征在于，所述高度限位单元为楔形调节块。