[发明专利]一种探测器几何校正体模及校正方法有效

专利信息
申请号: 201811635518.7 申请日: 2018-12-29
公开(公告)号: CN109549661B 公开(公告)日: 2022-11-15
发明(设计)人: 胡艳涛;张有为 申请(专利权)人: 北京纳米维景科技有限公司
主分类号: A61B6/03 分类号: A61B6/03;G06T5/00
代理公司: 北京汲智翼成知识产权代理事务所(普通合伙) 11381 代理人: 陈曦;任佳
地址: 100094 北京市海*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种探测器几何校正体模及校正方法。该方法包括如下步骤:将探测器几何校正体模固定在正对探测器的位置上,获取曝光的探测器几何校正体模图像;根据探测器几何校正体模图像,获取探测器几何校正体模上各圆孔的圆心坐标;根据各圆孔的圆心坐标,校正每个探测器芯片的旋转角度,使每个探测器芯片保持相对水平,并保存为第一校正模板;根据各圆孔的圆心坐标,计算相邻探测器芯片之间的缝隙,并保存为第二校正模板;根据各圆孔的圆心坐标,计算每个探测器芯片纵向的偏移量,并保存为第三校正模板;实际采集图像时,根据各校正模版,完成图像的几何校正。本校正方法实现了对所有探测器芯片所采集的图像的几何校正。
搜索关键词: 一种 探测器 几何 校正 方法
【主权项】:
1.一种探测器几何校正体模,其特征在于包括几何校正体模基板,所述几何校正体模基板上设置有由数排相同尺寸和间距的横向圆孔和纵向圆孔组成的圆孔阵列;所述圆孔设置的范围覆盖整个探测器的X射线接收面。
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