[发明专利]一种探测器几何校正体模及校正方法

说明书

本发明公开了一种探测器几何校正体模及校正方法。该方法包括如下步骤：将探测器几何校正体模固定在正对探测器的位置上，获取曝光的探测器几何校正体模图像；根据探测器几何校正体模图像，获取探测器几何校正体模上各圆孔的圆心坐标；根据各圆孔的圆心坐标，校正每个探测器芯片的旋转角度，使每个探测器芯片保持相对水平，并保存为第一校正模板；根据各圆孔的圆心坐标，计算相邻探测器芯片之间的缝隙，并保存为第二校正模板；根据各圆孔的圆心坐标，计算每个探测器芯片纵向的偏移量，并保存为第三校正模板；实际采集图像时，根据各校正模版，完成图像的几何校正。本校正方法实现了对所有探测器芯片所采集的图像的几何校正。

技术领域

本发明涉及一种几何校正体模，尤其涉及一种探测器几何校正体模，同时也涉及基于该几何校正体模进行探测器校正的方法，属于辐射成像技术领域。

背景技术

在计算机X射线断层扫描系统中(如附图1)，X射线由射线源发出，穿过被测物(如体模)投照到探测器中，经过光电转化后由数据处理系统处理后生成被测物的图像。由于X射线的扫描范围多为扇形，因此探测器为了达到X射线的等焦点成像多布置为弧形，并且该弧形探测器是由多个基本探测器芯片在X方向和Z方向上拼接形成的。

由于制造和装配公差，不可避免的存在相邻探测器芯片间的缝隙(如图2所示)，高度不一致(如图3所示)以及探测器芯片模块自身的旋转(如图4所示)，这些问题数据过大均会造成采集到的探测器图像不能真实表现被测物体的信息。因此，需要对探测器进行几何校正，以满足优质图像质量的需求。

发明内容

本发明所要解决的首要技术问题在于提供一种探测器几何校正体模。

本发明所要解决的另一技术问题在于提供一种探测器几何校正方法。

为了实现上述目的，本发明采用下述技术方案：

根据本发明实施例的第一方面，提供一种探测器几何校正体模，包括几何校正体模基板，所述几何校正体模基板上设置有由数排相同尺寸和间距的横向圆孔和纵向圆孔组成的圆孔阵列；

所述圆孔设置的范围覆盖整个探测器的X射线接收面。

其中较优地，所述几何校正体模基板为矩形板，所述矩形板呈弧形。

其中较优地，所述几何校正体模基板采用具有高X光射线吸收能力的材料制成。

其中较优地，在靠近所述几何校正体模基板边缘的位置等间距设置多个安装孔，所述安装孔与定位装置配合，使得所述探测器几何校正体模安装在探测器支架上，并使得所述探测器几何校正体模正对整个所述探测器且所述探测器几何校正体模上的圆孔覆盖所述探测器的X射线接收面。

根据本发明实施例的第二方面，提供一种探测器几何校正方法，基于上述的探测器几何校正体模实现，包括如下步骤：

步骤S1：将探测器几何校正体模固定在正对探测器的位置上，获取曝光的探测器几何校正体模图像；

步骤S2：根据所述探测器几何校正体模图像，获取探测器几何校正体模上各圆孔的圆心坐标；

步骤S3：根据各所述圆孔的圆心坐标，校正每个探测器芯片的旋转角度，使每个所述探测器芯片保持相对水平，并保存为第一校正模板；

步骤S4：根据各所述圆孔的圆心坐标，计算相邻所述探测器芯片之间的缝隙，并保存为第二校正模板；

步骤S5：根据各所述圆孔的圆心坐标，计算每个所述探测器芯片纵向的偏移量，并保存为第三校正模板；

步骤S6：实际采集图像时，根据各校正模版，完成图像的几何校正。

其中较优地，步骤S2包括如下子步骤：

步骤S21:根据所述探测器几何校正体模图像，获取图像中每个像素的图像灰度值；