[发明专利]一种定量检测量子点表面硫醇配体含量的方法有效

专利信息
申请号: 201811626902.0 申请日: 2018-12-28
公开(公告)号: CN111380935B 公开(公告)日: 2022-03-01
发明(设计)人: 霍蕊;邓承雨;芦子哲 申请(专利权)人: TCL科技集团股份有限公司
主分类号: G01N27/416 分类号: G01N27/416;G01N1/28
代理公司: 深圳市君胜知识产权代理事务所(普通合伙) 44268 代理人: 王永文;刘文求
地址: 516006 广东省惠州市*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开一种定量检测量子点表面硫醇配体含量的方法,钒酸铋(BiVO4)是一种可见光响应的半导体材料,具有良好的光催化活性,同时,具有良好的光电性质。进行光电测试(PEC),光照时,位于基态的电子空穴发生分离,跃迁的电子可产生电流被检测到。硫化铋(Bi2S3)作为一种半导体材料,可与钒酸铋形成Bi2S3‑BiVO4异质结,Bi2S3‑BiVO4这种异质结可以提高空穴和电子的分离效率,进行PEC测试时,比BiVO4的电流强度大。在硫化铋与钒酸铋的比例一定范围内,Bi2S3的含量与光电流大小成正比,通过测试光电流大小,就可以实现Bi2S3的定量计算,也即得到量子点表面硫醇配体的含量。
搜索关键词: 一种 定量 检测 量子 表面 硫醇 含量 方法
【主权项】:
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