[发明专利]半导体装置和测试方法在审
| 申请号： | 201811609813.5 | 申请日： | 2018-12-27 |
| 公开（公告）号： | CN110011661A | 公开（公告）日： | 2019-07-12 |
| 发明（设计）人： | 八木胜义 | 申请（专利权）人： | 拉碧斯半导体株式会社 |
| 主分类号： | H03L7/089 | 分类号： | H03L7/089 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 王岳;闫小龙 |
| 地址： | 日本神奈*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明涉及半导体装置和测试方法。目的在于提供能够在不招致在通常工作时的特性劣化的情况下容易地进行制品出货前的测试的半导体装置和测试方法。本发明的半导体装置具有PLL电路，所述PLL电路包含：相位比较部，对基准信号与振荡信号的相位差进行检测，生成由2值表示相位差的相位差信号，并将其经由第一外部端子外部输出；电压变换部，将具有与相位差对应的电压值的相位差电压向相位差电压节点施加，所述相位差由相位差信号表示；振荡部，生成具有与相位差电压对应的频率的信号来作为振荡信号；以及校正电路，将校正电流向相位差电压节点供给，在第二外部端子接收到测试控制信号的情况下将与测试控制信号对应的电流作为校正电流向相位差电压节点供给。 | ||
| 搜索关键词： | 相位差电压 半导体装置 相位差 测试 测试控制信号 相位差信号 外部端子 振荡信号 电压变换部 相位比较部 基准信号 将校正电 特性劣化 外部输出 校正电流 校正电路 振荡部 出货 施加 检测 | ||
【主权项】：
1.一种半导体装置，包含PLL电路，所述PLL电路生成与基准信号同步的振荡信号，所述半导体装置的特征在于，包含第一和第二外部端子，所述PLL电路具有：相位比较部，对所述基准信号与所述振荡信号的相位差进行检测，生成由2值表示所述相位差的相位差信号；电压变换部，将所述相位差信号变换为具有与所述相位差对应的电压值的相位差电压，并将其向相位差电压节点施加，所述相位差由该相位差信号表示；振荡部，生成具有与所述相位差电压对应的频率的信号来作为所述振荡信号；以及校正电路，将对所述相位差电压进行校正的校正电流向所述相位差电压节点供给，所述相位比较部将所述相位差信号经由所述第一外部端子输出，所述校正电路在所述第二外部端子接收到测试控制信号的情况下生成与所述测试控制信号对应的电流，并将其作为所述校正电流向所述相位差电压节点供给。
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