[发明专利]一种发光二极管的外延片及制备方法有效

专利信息
申请号: 201811597479.6 申请日: 2018-12-26
公开(公告)号: CN109786521B 公开(公告)日: 2020-11-10
发明(设计)人: 洪威威;王倩;周飚;胡加辉 申请(专利权)人: 华灿光电(浙江)有限公司
主分类号: H01L33/06 分类号: H01L33/06;H01L33/14;H01L33/32;H01L33/00
代理公司: 北京三高永信知识产权代理有限责任公司 11138 代理人: 徐立
地址: 322000 浙江省*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明公开了一种发光二极管的外延片及制备方法,属于发光二极管制造领域。多量子阱层中第一超晶格结构中AlxGa1‑xN垒层较高的势垒可起到阻挡电子的作用,提高多量子阱层中空穴的浓度,有利于提高发光二极管的发光效率。而第二超晶格结构中的AlyGa1‑yN垒层的势垒低于AlxGa1‑xN垒层的势垒则使得部分空穴还可移动至第二超晶格结构中,空穴分布较为均匀。同时AlxGa1‑xN垒层的厚度大于AlyGa1‑yN垒层的厚度、AlyGa1‑yN垒层的厚度大于第三超晶格结构中的GaN垒层的厚度,也可使电子受到较厚的AlxGa1‑xN垒层的阻挡,GaN垒层对空穴的阻挡作用则较小,同样可起到延长电子深入多量子阱层的时间、并提供给空穴更多时间深入多量子阱层的作用,有利于提高发光二极管的发光效率与均匀度。
搜索关键词: 一种 发光二极管 外延 制备 方法
【主权项】:
1.一种发光二极管的外延片,其特征在于,所述外延片包括衬底及依次层叠在所述衬底上的缓冲层、未掺杂GaN层、N型GaN层、多量子阱层以及P型GaN层,所述多量子阱层包括依次层叠的第一超晶格结构、第二超晶格结构与第三超晶格结构,所述第一超晶格结构包括交替层叠的InGaN阱层与AlxGa1‑xN垒层,所述第二超晶格结构包括交替层叠的InGaN阱层与AlyGa1‑yN垒层,其中y<x,所述第三超晶格结构包括交替层叠的InGaN阱层与GaN垒层,所述AlxGa1‑xN垒层的厚度大于所述AlyGa1‑yN垒层的厚度,所述AlyGa1‑yN垒层的厚度大于所述GaN垒层的厚度。
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