[发明专利]一种发光二极管的外延片及制备方法有效
| 申请号: | 201811597479.6 | 申请日: | 2018-12-26 |
| 公开(公告)号: | CN109786521B | 公开(公告)日: | 2020-11-10 |
| 发明(设计)人: | 洪威威;王倩;周飚;胡加辉 | 申请(专利权)人: | 华灿光电(浙江)有限公司 |
| 主分类号: | H01L33/06 | 分类号: | H01L33/06;H01L33/14;H01L33/32;H01L33/00 |
| 代理公司: | 北京三高永信知识产权代理有限责任公司 11138 | 代理人: | 徐立 |
| 地址: | 322000 浙江省*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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| 摘要: |
本发明公开了一种发光二极管的外延片及制备方法,属于发光二极管制造领域。多量子阱层中第一超晶格结构中Al |
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| 搜索关键词: | 一种 发光二极管 外延 制备 方法 | ||
【主权项】:
1.一种发光二极管的外延片,其特征在于,所述外延片包括衬底及依次层叠在所述衬底上的缓冲层、未掺杂GaN层、N型GaN层、多量子阱层以及P型GaN层,所述多量子阱层包括依次层叠的第一超晶格结构、第二超晶格结构与第三超晶格结构,所述第一超晶格结构包括交替层叠的InGaN阱层与AlxGa1‑xN垒层,所述第二超晶格结构包括交替层叠的InGaN阱层与AlyGa1‑yN垒层,其中y<x,所述第三超晶格结构包括交替层叠的InGaN阱层与GaN垒层,所述AlxGa1‑xN垒层的厚度大于所述AlyGa1‑yN垒层的厚度,所述AlyGa1‑yN垒层的厚度大于所述GaN垒层的厚度。
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