[发明专利]沟槽栅IGBT及装置在审
申请号: | 201811589486.1 | 申请日: | 2018-12-25 |
公开(公告)号: | CN111370475A | 公开(公告)日: | 2020-07-03 |
发明(设计)人: | 兰昊;冯宇翔 | 申请(专利权)人: | 广东美的白色家电技术创新中心有限公司;美的集团股份有限公司 |
主分类号: | H01L29/739 | 分类号: | H01L29/739;H01L29/423 |
代理公司: | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人: | 王莹;吴欢燕 |
地址: | 528311 广东省佛山市*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明实施例提供沟槽栅IGBT及装置,对现有技术中沟槽栅IGBT进行改进,所述改进后的沟槽栅IGBT包括发射极、p阱区、栅极、栅极氧化层、漂移区和背部集电极,所述栅极位于沟槽内,栅极与发射极、p阱区和漂移区之间由栅极氧化层隔离,所述沟槽设置在衬底内部,所述沟槽与漂移区的边界具有多个凹陷。在沟槽栅IGBT开关过程中,所述沟槽的侧面与漂移区的界面上具有多个凹陷栅极氧化层,可以束缚和积累电子电荷,从而提高导通能力,解决现有技术中沟槽栅IGBT的开关功耗过高的技术问题,以起到减小沟槽栅IGBT的开关功耗的有益效果。 | ||
搜索关键词: | 沟槽 igbt 装置 | ||
【主权项】:
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