[发明专利]一种用于NAND闪存的似然比软值的生成方法和装置有效
| 申请号: | 201811583638.7 | 申请日: | 2018-12-24 |
| 公开(公告)号: | CN109686398B | 公开(公告)日: | 2021-04-09 |
| 发明(设计)人: | 马征 | 申请(专利权)人: | 西南交通大学 |
| 主分类号: | G11C29/42 | 分类号: | G11C29/42;H03M13/11 |
| 代理公司: | 北京集智东方知识产权代理有限公司 11578 | 代理人: | 陈亚斌;关兆辉 |
| 地址: | 610031 四*** | 国省代码: | 四川;51 |
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| 摘要: | 本发明提供了一种用于NAND闪存的似然比软值的生成方法和装置。其中的用于NAND闪存的似然比软值的生成装置包括:读写控制器和纠错编码迭代译码器。通过使用上述的用于NAND闪存的似然比软值的生成方法和装置,可以得到比较准确的译码似然比软值。 | ||
| 搜索关键词: | 一种 用于 nand 闪存 生成 方法 装置 | ||
【主权项】:
1.一种用于NAND闪存的似然比软值的生成方法,其特征在于,该方法包括如下步骤:步骤A,读写控制器通过预设的参考电压对NAND闪存中各单元的电压值进行读取;步骤B,读写控制器根据所读取的电压值进行硬判决译码;步骤C,判断是否正确译码,如果是,则执行步骤I;否则,执行步骤D;步骤D,读写控制器根据所读取的电压值,使用广义似然比的方法计算得到似然比软值;步骤E,将似然比软值输入纠错编码迭代译码器进行纠错编码,并进行软判决译码;步骤F,判断是否正确译码,如果是,则执行步骤I;否则,执行步骤G;步骤G,判断当前的参考电压级数是否为预设的最大参考电压级数,如果是,则执行步骤I;否则,执行步骤H;步骤H,将当前的参考电压的级数增加一级,再使用增加后的参考电压对NAND闪存中各单元的电压值进行读取;返回执行步骤D;步骤I,输出译码结果作为读出数据。
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