[发明专利]一种利用光谱数据判别红富士苹果腐烂程度的方法有效
| 申请号： | 201811583297.3 | 申请日： | 2018-12-24 |
| 公开（公告）号： | CN109827908B | 公开（公告）日： | 2021-04-13 |
| 发明（设计）人： | 杨燕杰;杨国防;邱骏挺;赵英俊 | 申请（专利权）人： | 核工业北京地质研究院 |
| 主分类号： | G01N21/25 | 分类号： | G01N21/25 |
| 代理公司： | 核工业专利中心 11007 | 代理人： | 闫兆梅 |
| 地址： | 100029 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明属于信息提取技术领域，具体涉及一种利用光谱数据判别红富士苹果腐烂程度的方法，包括：步骤一：调整待筛选对象位置；步骤二：光谱数据预处理；步骤三：光谱数据转换为高光谱栅格影像像元数据；步骤四：采集特定波段高光谱栅格影像像元数据；步骤五：计算待测物品质系数H；步骤七：分析待测物品质系数H。本发明通过利用光谱数据处理方法对红富士苹果的腐烂程度进行自动筛选、判别，提高了数据处理速度及信息提取的精度，降低了人为判断的误差。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 利用 光谱 数据 判别 富士 苹果 腐烂 程度 方法 | ||
【主权项】：
1.一种利用光谱数据判别红富士苹果腐烂程度的方法，其特征在于：包括：步骤一：调整待筛选对象位置；步骤二：光谱数据预处理；步骤三：光谱数据转换为高光谱栅格影像像元数据；步骤四：采集特定波段高光谱栅格影像像元数据；步骤五：计算待测物品质系数H；步骤七：分析待测物品质系数H。
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