[发明专利]一种利用光谱数据判别红富士苹果腐烂程度的方法

权利要求书

1.一种利用光谱数据判别红富士苹果腐烂程度的方法，其特征在于：包括：

步骤一：调整待筛选对象位置；

步骤二：光谱数据预处理；

步骤三：光谱数据转换为高光谱栅格影像像元数据；

步骤四：采集特定波段高光谱栅格影像像元数据；

步骤五：计算待测物品质系数H；包括：将特定波段714nm影像像元值的三次方除以特定波段375nm影像像元值得到待测物品质系数H；

步骤六：分析待测物品质系数H，包括：若待测物品质系数H小于2，则红富士苹果为表面腐烂；若待测物品质系数H大于等于2且小于等于10，则红富士苹果存在腐烂趋势，若待测物品质系数H大于10，则红富士苹果为正常苹果。

2.根据权利要求1所述的一种利用光谱数据判别红富士苹果腐烂程度的方法，其特征在于：所述步骤一：调整待筛选对象位置，包括：将待筛选红富士苹果平放，光谱测量仪探头与待筛选红富士苹果距离5cm至10cm,探头不遮挡阳光或人造光源。

3.根据权利要求2所述的一种利用光谱数据判别红富士苹果腐烂程度的方法，其特征在于：所述步骤二：光谱数据预处理还包括：大气校正，获取样品或地物光谱的反射率数据。

4.根据权利要求3所述的一种利用光谱数据判别红富士苹果腐烂程度的方法，其特征在于：所述步骤三：光谱数据批量转换为高光谱栅格影像数据，还包括：将光谱数据转换为高光谱栅格影像像元数据，每个高光谱栅格影像像元数据对应一条光谱数据，每条光谱数据对应一个待筛选红富士苹果。

5.根据权利要求4所述的一种利用光谱数据判别红富士苹果腐烂程度的方法，其特征在于：所述步骤四：采集特定波段高光谱栅格影像像元数据，包括：分别提取特定波段714nm和特定波段375nm的高光谱栅格影像像元数据。