[发明专利]用于确定磁共振成像装置的成像质量信息的方法、装置有效
| 申请号： | 201811579266.0 | 申请日： | 2018-12-21 |
| 公开（公告）号： | CN109959886B | 公开（公告）日： | 2021-09-10 |
| 发明（设计）人： | A.德奥利维拉;M.哈尔德;S.坎宁吉瑟;W.兰德舒茨 | 申请（专利权）人： | 西门子保健有限责任公司 |
| 主分类号： | G01R33/54 | 分类号： | G01R33/54;A61B5/055 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人： | 张贵东 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 用于在位于磁共振成像装置(MRIA)的成像体积内的患者的检查过程中确定成像质量信息的方法，所述方法包括以下步骤：使用预定的第一磁共振序列测量描述MRIA在成像体积中的一般噪声特性的噪声信息，使用预定的第二磁共振序列采集患者的至少一个成像区域中的患者图像数据，通过地标检测算法在患者图像中定位一组预定的体表地标中的至少一个体表地标，其中针对每个地标和/或针对至少一对地标，在数据库中提供有关于成像质量信息的参考信息，根据地标处的患者图像数据和噪声信息确定针对每个定位地标的地标特定的信噪比，以及根据地标特定的信噪比确定成像质量信息，其中根据成像质量信息与数据库中相应的参考信息的比较，执行性能评估和/或成像参数的确定。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 确定 磁共振 成像 装置 质量 信息 方法 | ||
【主权项】：
1.一种用于在至少部分地位于磁共振成像装置的成像体积(5)内的患者(4)的检查过程中确定磁共振成像装置(1)的成像质量信息的方法，其中所述成像质量信息用于评估磁共振成像装置的性能和/或用于确定成像协议的成像参数，所述方法包括以下步骤：使用预定的第一磁共振序列来测量噪声信息，所述噪声信息描述磁共振成像装置(1)在成像体积(5)中的一般噪声特性，使用预定的第二磁共振序列采集患者(4)的至少一个成像区域中的患者图像数据，通过地标检测算法在患者图像中定位一组预定的体表地标中的至少一个体表地标，其中针对每个地标和/或针对至少一对地标，在数据库(8)中提供有关于成像质量信息的参考信息，根据地标处的患者图像数据和噪声信息确定针对每个定位地标的地标特定的信噪比，以及根据地标特定的信噪比确定成像质量信息，其中根据成像质量信息与数据库中相应的参考信息的比较，执行磁共振成像装置(1)的性能评估和/或成像参数的确定。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于西门子保健有限责任公司，未经西门子保健有限责任公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201811579266.0/，转载请声明来源钻瓜专利网。
