[发明专利]用于确定磁共振成像装置的成像质量信息的方法、装置

权利要求书

1.一种用于在至少部分地位于磁共振成像装置的成像体积（5）内的患者（4）的检查过程中确定磁共振成像装置（1）的成像质量信息的方法，其中所述成像质量信息用于评估磁共振成像装置的性能和/或用于确定成像协议的成像参数，所述方法包括以下步骤：

使用预定的第一磁共振序列来测量噪声信息，所述噪声信息描述磁共振成像装置（1）在成像体积（5）中的一般噪声特性，

使用预定的第二磁共振序列采集患者（4）的至少一个成像区域中的患者图像数据，

通过地标检测算法在患者图像中定位一组预定的体表地标中的至少一个体表地标，其中针对每个地标和/或针对至少一对地标，在数据库（8）中提供有关于成像质量信息的参考信息，

根据地标处的患者图像数据和噪声信息确定针对每个定位地标的地标特定的信噪比，以及

根据地标特定的信噪比确定成像质量信息，其中根据成像质量信息与数据库中相应的参考信息的比较，执行磁共振成像装置（1）的性能评估和/或成像参数的确定。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于：

将与各个患者无关的磁共振序列用作第二磁共振序列。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于：

所述与各个患者无关的磁共振序列是预扫描序列或定位器序列。

4.根据权利要求1至3之一所述的方法，其特征在于，将没有激励脉冲的磁共振序列用作第一磁共振序列。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，第一磁序列对应于没有激励脉冲的第二磁共振序列。

6.根据权利要求1至3之一所述的方法，其特征在于，使用包括参考信噪比的参考信息，其中参考信噪比是基于存储在数据库中的先前测量的地标特定的信噪比来计算和/或根据经验确定和/或确定的。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述参考信噪比是先前测量的地标特定的信噪比的平均值或加权平均值。

8.根据权利要求1至3之一所述的方法，其特征在于，通过对包括地标或由地标组成的限定图像区域内的信号强度进行平均来确定地标特定的信噪比。

9.根据权利要求1至3之一所述的方法，其特征在于，成像质量信息包括当前地标特定的信噪比和存储在数据库中的先前测量的地标特定的信噪比的平均值。

10.根据权利要求9所述的方法，其特征在于，所述成像质量信息是先前测量的地标特定的信噪比的平均值和/或滑动窗口平均值和/或加权平均值。

11.根据权利要求1至3之一所述的方法，其特征在于，如果根据成像质量信息所评估的磁共振成像装置（1）的性能满足至少一个通知标准，则生成对磁共振成像装置（1）的操作者的通知。

12.根据权利要求1至3之一所述的方法，其特征在于，将一对地标的对比度噪声比确定为成像质量信息，其中参考信息包括参考对比度噪声比。

13.根据权利要求1至3之一所述的方法，其特征在于，基于一对地标的对比度噪声比来执行当前检查过程中的至少一个成像序列的至少一个成像参数的优化。

14.根据权利要求13所述的方法，其特征在于，为了优化成像参数，使用与成像序列在至少一个成像参数值方面不同的至少一个修改后的成像序列，其中基于成像序列的对比度噪声比和从至少一个修改后的成像序列所确定的对比度噪声比的比较，对至少一个成像参数值进行优化。

15.根据权利要求14所述的方法，其特征在于，通过多次使用不同地修改后的成像协议和根据至少一个成像参数的对比度噪声比的优化来生成优化后的成像序列。