[发明专利]一种测试AD性能的方法有效
申请号: | 201811542211.2 | 申请日: | 2018-12-17 |
公开(公告)号: | CN111327374B | 公开(公告)日: | 2022-03-01 |
发明(设计)人: | 邱慧昌;赵辰;李建峰;王冬祥;闫锡桐;窦向会;姜博畅 | 申请(专利权)人: | 天津光电通信技术有限公司 |
主分类号: | H04B17/29 | 分类号: | H04B17/29 |
代理公司: | 天津合正知识产权代理有限公司 12229 | 代理人: | 郭乐 |
地址: | 300211*** | 国省代码: | 天津;12 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: |
本发明提供一种测试AD性能的方法,其过程如下:1)两台矢量信号源、PC机、合路器和被测接收机;将两台矢量信号源的输出端与合路器的输入端相连,合路器的输出端与被测接收机相连,被测接收机与PC机相连。2)计算输入二阶互调截点值为IIP |
||
搜索关键词: | 一种 测试 ad 性能 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于天津光电通信技术有限公司,未经天津光电通信技术有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201811542211.2/,转载请声明来源钻瓜专利网。