[发明专利]一种测试AD性能的方法

说明书

本发明提供一种测试AD性能的方法，其过程如下：1)两台矢量信号源、PC机、合路器和被测接收机；将两台矢量信号源的输出端与合路器的输入端相连，合路器的输出端与被测接收机相连，被测接收机与PC机相连。2)计算输入二阶互调截点值为IIP₂＝2P_in‑P_s(dBm)；3)计算三阶互调截点值为4)计算路间隔离度，其公式为：ACI＝P_w0‑P_wn(dBm)。本方法可以方便计算AD芯片采集模拟信号的二、三阶互调截点、路间隔离度；使得短波超短波等设备便于性能测试；具有结构简单、使用方便、测试数据准确等优点。

技术领域

本发明涉及通信技术领域，尤其涉及一种测试AD性能的方法。

背景技术

当两个射频信号通过无源器件时，会产生2/3/4/5/6/7等等阶次的互调信号，其中二阶信号的定义为：IM2＝F1+/-F2，在移动通信中我们发现，电信CDMA800的二阶会干扰移动DCS和联通1.8，移动GSM900的二阶会干扰移动TDF，因此在多频天线或共站系统中，我们必须重视该二阶互调值，同时通过二阶互调仪进行精确测定。

三阶互调截点是指当两个信号在一个线性系统中，由于非线性因素存在使一个信号的二次谐波与另一个信号的基波产生差拍(混频)后产生的寄生信号。由于一个信号是二次谐波(二阶信号)；另外一个信号是一阶信号，他俩的合称为三阶信号，又称之为三阶互调失真信号，他表示一个线性系统所包含的非线性系数的大小，测试这项指标的主要测试仪器是频谱分析仪。

AD作为常用的模数转换器，采集模拟信号，转化为数字信号输出至FPGA等处理芯片，此时，AD的二、三阶互调截点、路间隔离度等指标是无法通过频谱分析仪和二阶互调仪等设备进行测试的。因此，研发一种测试AD性能的方法是个亟待解决的问题。

发明内容

本发明要解决以上技术问题，提供一种测试AD性能的方法，通过计算机进行软件程序编写，接收原始IQ数据，计算相应的性能指标。

为解决上述技术问题，本发明采用的技术方案是：

一种测试AD性能的方法，其过程如下：

1、两台矢量信号源、PC机、合路器和被测接收机；

两台矢量信号源(输出的信号为信号源1和信号源2)的输出端与合路器的输入端相连，合路器的输出端与被测接收机相连，被测接收机与PC机相连；

2、计算二阶互调截点值

当两个无用信号的频率f_r(离有用信号频率较远的频率)和f_n(离有用信号频率较近的频率)与有用信号频率f_w具有一种特定的频率关系时，由于它们之间二阶互调在接收机输出端产生的无用信号响应，就是二阶互调，常用输入二阶互调截点值表示。

二阶互调的频率关系为：f_w＝f_r±f_n

a、设置接收机工作频率为f_s,模拟中频带宽为B_w，增益方式设置为MGC；

b、信号源2输出关断，设置信号源1频率为f_s,调整信号源1的输出功率使PC机显示的接收机输出信号功率较接收机最小可检测电平对应输出信号电平高6dB，记录接收机天线输入端功率为P_s(dBm)，调整增益控制量，使输出端功率达到0dBm，并记录PC机输出信号功率为P_r(dBm)；