[发明专利]一种偏光膜内硼酸含量的检测方法在审
| 申请号： | 201811536341.5 | 申请日： | 2018-12-14 |
| 公开（公告）号： | CN109738575A | 公开（公告）日： | 2019-05-10 |
| 发明（设计）人： | 陈学文;陈敏;李广鑫 | 申请（专利权）人： | 深圳市盛波光电科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N31/16 | 分类号： | G01N31/16 |
| 代理公司： | 深圳市科吉华烽知识产权事务所(普通合伙) 44248 | 代理人： | 詹浩萍 |
| 地址： | 518000 广东省*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 一种偏光膜内硼酸含量的检测方法，包括以下步骤：S1，强碱滴定弱酸化学平衡常数的确定及标准数学模型的建立，S2，标准数学模型的校验与修正；S3，偏光膜的前处理工序，包含偏光膜干燥、溶解、消色等；S4，溶液中硼酸含量检测及偏光膜内硼酸含量计算，用1mol/L的NaOH标准溶液滴定偏光膜溶液中硼酸含量，由消耗的NaOH标准溶液体积V及硼酸质量—NaOH标准溶液体积的标准数学模型计算出溶液中硼酸含量m1，通过计算得出偏光膜内硼酸的质量浓度wt，wt%=m1/m0*100%。本发明可实时监测反馈出偏光片生产制作、工艺调整过程中偏光膜内硼酸含量，为生产制作高品质偏光片产品提供指导意见。 | ||
| 搜索关键词： | 硼酸 偏光膜 标准数学模型 标准溶液 偏光片 滴定 化学平衡常数 强碱 产品提供 工艺调整 含量计算 含量检测 实时监测 高品质 前处理 检测 校验 弱酸 消色 制作 溶解 反馈 消耗 修正 生产 | ||
【主权项】：
1.一种偏光膜内硼酸含量的检测方法，其特征在于，包括以下步骤：S1，强碱滴定弱酸化学平衡常数的确定及标准数学模型的建立，包括：配制系列已知浓度的硼酸溶液、配制1mol/L NaOH标准溶液、用1mol/L的NaOH标准溶液滴定一系列不同质量浓度的硼酸标准溶液，得出硼酸质量—NaOH标准溶液体积线性关系，建立标准数学模型；S2，标准数学模型的校验与修正；S3，偏光膜的前处理工序，取适量偏光膜真空干燥后冷却至室温，精确称取质量m0的偏光膜加热水完全溶解后冷却至室温，向溶解偏光膜的溶液中加入适量的硫代硫酸钠溶液，消除溶液颜色；S4，溶液中硼酸含量检测及偏光膜内硼酸含量计算，包括：用1mol/L的NaOH标准溶液滴定偏光膜溶液中硼酸含量，由消耗的NaOH标准溶液体积V及硼酸质量—NaOH标准溶液体积的标准数学模型计算出溶液中硼酸含量m1，通过计算得出偏光膜内硼酸的质量浓度wt，wt％＝m1/m0*100％。
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