[发明专利]一种偏光膜内硼酸含量的检测方法在审
申请号: | 201811536341.5 | 申请日: | 2018-12-14 |
公开(公告)号: | CN109738575A | 公开(公告)日: | 2019-05-10 |
发明(设计)人: | 陈学文;陈敏;李广鑫 | 申请(专利权)人: | 深圳市盛波光电科技有限公司 |
主分类号: | G01N31/16 | 分类号: | G01N31/16 |
代理公司: | 深圳市科吉华烽知识产权事务所(普通合伙) 44248 | 代理人: | 詹浩萍 |
地址: | 518000 广东省*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 硼酸 偏光膜 标准数学模型 标准溶液 偏光片 滴定 化学平衡常数 强碱 产品提供 工艺调整 含量计算 含量检测 实时监测 高品质 前处理 检测 校验 弱酸 消色 制作 溶解 反馈 消耗 修正 生产 | ||
一种偏光膜内硼酸含量的检测方法,包括以下步骤:S1,强碱滴定弱酸化学平衡常数的确定及标准数学模型的建立,S2,标准数学模型的校验与修正;S3,偏光膜的前处理工序,包含偏光膜干燥、溶解、消色等;S4,溶液中硼酸含量检测及偏光膜内硼酸含量计算,用1mol/L的NaOH标准溶液滴定偏光膜溶液中硼酸含量,由消耗的NaOH标准溶液体积V及硼酸质量—NaOH标准溶液体积的标准数学模型计算出溶液中硼酸含量m1,通过计算得出偏光膜内硼酸的质量浓度wt,wt%=m1/m0*100%。本发明可实时监测反馈出偏光片生产制作、工艺调整过程中偏光膜内硼酸含量,为生产制作高品质偏光片产品提供指导意见。
技术领域
本发明涉及液晶显示用碘系偏光膜生产制造领域,尤其是一种偏光膜内硼酸含量的检测方法,特别是碘系偏光膜内硼酸含量的检测方法。
背景技术
偏光片在LCD显示终端应用中是必不可少的光学元件,其作为光学开关器件,决定着光路的透过与闭合。偏光片制造过程中最核心、难度系数最高的为偏光膜的制备工序。在偏光膜的制备工序中需使用到硼酸作为交联剂,因硼酸能与富含羟基的多元醇构型络合形成硼酯化合物,结构稳定,可加强偏光膜的尺寸稳定性及提升偏光性能,偏光膜内发生交联作用的硼酸含量的多少在一定程度上决定着偏光片产品的品位。因此,监测偏光片产品偏光膜内硼酸的含量对制备高质量的偏光片产品具有较为明确的指导意义。
目前,分析检测硼及其盐类的主要方法有分光光度法、液相色谱法(HPLC)、电感耦合等离子体原子发射光谱法(ICP-AES)、等离子体质谱法(ICP-MS)等。此类检测方法或仅能定性检测,或需做检测前衍生处理、干扰性多,或检测过程操作繁琐、检测设备昂贵等。
偏光膜的制备经过多碘离子上染、硼酸交联等工序,内部结构的复杂性及多碘离子的不稳定性对上述检测方法易造成严重干扰,导致检测结果的不确定性。
发明内容
为克服现有检测方法应用于偏光片制造领域存在的技术问题,本发明提供了一种偏光膜内硼酸含量的检测方法,其通过简单的预处理工序就可准确的检测出偏光膜内硼酸含量,操作简单、成本低廉,具备极强的可重复性和再现性。
一种偏光膜内硼酸含量的检测方法,包括以下步骤:
S1,强碱滴定弱酸化学平衡常数的确定及标准数学模型的建立,包括:配制系列已知浓度的硼酸溶液、配制1mol/L NaOH标准溶液、用1mol/L的NaOH标准溶液滴定一系列不同质量浓度的硼酸标准溶液,得出硼酸质量—NaOH标准溶液体积线性关系,建立标准数学模型;
S2,偏光膜的前处理工序,取适量偏光膜真空干燥后冷却至室温,精确称取质量m0的偏光膜加热水完全溶解后冷却至室温,向溶解偏光膜的溶液中加入适量的硫代硫酸钠溶液,消除溶液颜色;
S3,溶液中硼酸含量检测及偏光膜内硼酸含量计算与校验,包括:用1mol/L的NaOH标准溶液滴定偏光膜溶液中硼酸含量,由消耗的NaOH标准溶液体积V及硼酸质量—NaOH标准溶液体积的标准数学模型计算出溶液中硼酸含量m1,通过计算得出偏光膜内硼酸的质量浓度wt,wt%=m1/m0*100%。
作为本发明的进一步改进,S1具体包括:
S1.1,配制一系列不同质量浓度的硼酸标准溶液;
S1.2,配制1mol/L的NaOH标准溶液,备用;
S1.3,在标准硼酸溶液中加入一定量的引发剂,引发剂为乙二醇、季戊二醇、甘油、甘露醇、山梨醇中的至少一种,优选的为甘油、甘露醇,以及加入一定量的指示剂,优选为石蕊、酚酞,更优选为酚酞;
S1.4,用1mol/L的NaOH标准溶液滴定一系列不同质量浓度的硼酸标准溶液,得出硼酸质量—NaOH标准溶液体积线性关系,建立标准数学模型。
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