[发明专利]具有折射率轴向非均匀性的光学材料光谱性能计算方法在审
| 申请号： | 201811525585.3 | 申请日： | 2018-12-13 |
| 公开（公告）号： | CN109580552A | 公开（公告）日： | 2019-04-05 |
| 发明（设计）人： | 刘华松;刘丹丹;姜玉刚;季一勤 | 申请（专利权）人： | 天津津航技术物理研究所 |
| 主分类号： | G01N21/55 | 分类号： | G01N21/55;G01N21/59 |
| 代理公司： | 中国兵器工业集团公司专利中心 11011 | 代理人： | 刘二格 |
| 地址： | 300308 天津*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种具有折射率轴向非均匀性的光学材料光谱性能计算方法，用于计算平行平板光学材料的光谱透射特性和反射特性以及吸收特性。由于折射率非均匀性的连续性，因此该方法是将光学材料在轴向垂直方向进行切片，多层切片的光波传输线性叠加关系，因此通过该方法可以计算出材料折射率非均匀性下的光谱特性。该方法对于光学系统设计和光学薄膜元件的设计具有普适性。 | ||
| 搜索关键词： | 光学材料 非均匀性 光谱 性能计算 折射率 切片 轴向 折射率非均匀性 光学薄膜元件 光学系统设计 材料折射率 反射特性 光波传输 光谱特性 平行平板 透射特性 吸收特性 线性叠加 轴向垂直 普适性 多层 | ||
【主权项】：
1.一种具有折射率轴向非均匀性的光学材料光谱性能计算方法，其特征在于，包括以下步骤：S1：设定光学材料表面光滑；S2：确定复折射率的非均匀性方程；S3：根据非均匀性方程分别计算光学材料的两个表面的折射率；S4：在入射角为θ0、入射介质的折射率为N0的情况下，计算入射介质和光学材料的两个表面等效折射率；S5：在入射角θ0的情况下，计算光学材料第一表面的反射率；S6：在入射角θ0的情况下，计算光学材料第二表面的反射率；S7：将平行平板的光学材料进行平面切片，计算平面切片的折射率复折射率；S8：计算平面切片的等效折射率和等效消光系数；S9：根据步骤S8计算基底的等效折射率和消光系数；S10：计算轴向折射率非均匀的光学材料内透过率；S11：基于线性叠加原理，计算光学材料的光谱特性，包括反射率和透射率。
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