[发明专利]具有折射率轴向非均匀性的光学材料光谱性能计算方法在审
| 申请号: | 201811525585.3 | 申请日: | 2018-12-13 |
| 公开(公告)号: | CN109580552A | 公开(公告)日: | 2019-04-05 |
| 发明(设计)人: | 刘华松;刘丹丹;姜玉刚;季一勤 | 申请(专利权)人: | 天津津航技术物理研究所 |
| 主分类号: | G01N21/55 | 分类号: | G01N21/55;G01N21/59 |
| 代理公司: | 中国兵器工业集团公司专利中心 11011 | 代理人: | 刘二格 |
| 地址: | 300308 天津*** | 国省代码: | 天津;12 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 光学材料 非均匀性 光谱 性能计算 折射率 切片 轴向 折射率非均匀性 光学薄膜元件 光学系统设计 材料折射率 反射特性 光波传输 光谱特性 平行平板 透射特性 吸收特性 线性叠加 轴向垂直 普适性 多层 | ||
1.一种具有折射率轴向非均匀性的光学材料光谱性能计算方法,其特征在于,包括以下步骤:
S1:设定光学材料表面光滑;
S2:确定复折射率的非均匀性方程;
S3:根据非均匀性方程分别计算光学材料的两个表面的折射率;
S4:在入射角为θ0、入射介质的折射率为N0的情况下,计算入射介质和光学材料的两个表面等效折射率;
S5:在入射角θ0的情况下,计算光学材料第一表面的反射率;
S6:在入射角θ0的情况下,计算光学材料第二表面的反射率;
S7:将平行平板的光学材料进行平面切片,计算平面切片的折射率复折射率;
S8:计算平面切片的等效折射率和等效消光系数;
S9:根据步骤S8计算基底的等效折射率和消光系数;
S10:计算轴向折射率非均匀的光学材料内透过率;
S11:基于线性叠加原理,计算光学材料的光谱特性,包括反射率和透射率。
2.如权利要求1所述的具有折射率轴向非均匀性的光学材料光谱性能计算方法,其特征在于,所述步骤S2中,非均匀性方程为抛物线方程,如公式(1)所示:
N(λ,x)=Nmat(λ)+B1x+B2x2+B3x3+B4x5 (1)
N(λ,x)为材料内任意平面位置x的折射率,Nmat(λ)为材料的无缺陷折射率,B1~B4为折射率梯度方程的系数。
3.如权利要求2所述的具有折射率轴向非均匀性的光学材料光谱性能计算方法,其特征在于,所述步骤S3中,光学材料第一表面的折射率为Na(λ)=na(λ)-i×ka(λ),第二表面的折射率为Nb(λ)=nb(λ)-i×kb(λ);第一表面的折射率和第二表面的折射率均为复数。
4.如权利要求3所述的具有折射率轴向非均匀性的光学材料光谱性能计算方法,其特征在于,所述步骤S4中,入射介质和光学材料的两个表面等效折射率计算如下:
入射介质的等效折射率为:
光学材料第一个表面的等效折射率为:
光学材料第二个表面的等效折射率为:
确定折射角使用菲涅尔定律:
N0cosθ0=Nasinθa=Nbsinθb (5)
其中,N0,s,p表示S-偏振、P-偏振的等效折射率,Na,s,p表示材料第一表面S-偏振、P-偏振的等效折射率,θa为第一表面的折射角,Nb,s,p表示材料第二表面S-偏振、P-偏振的等效折射率,θb为第二表面的折射角。
5.如权利要求4所述的具有折射率轴向非均匀性的光学材料光谱性能计算方法,其特征在于,所述步骤S5中,在入射角θ0的情况下,计算光学材料第一表面的反射率:
Na,s和Na,p分别表示第一表面的S-偏振和P-偏振的等效折射率,N0,s和N0,p分别表示入射介质的S-偏振和P-偏振的等效折射率。
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