[发明专利]一种总氮测定仪在审
| 申请号： | 201811521457.1 | 申请日： | 2018-12-13 |
| 公开（公告）号： | CN109342345A | 公开（公告）日： | 2019-02-15 |
| 发明（设计）人： | 不公告发明人 | 申请（专利权）人： | 北京连华永兴科技发展有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/33 | 分类号： | G01N21/33;G01N21/01 |
| 代理公司： | 北京纽乐康知识产权代理事务所(普通合伙) 11210 | 代理人： | 田磊 |
| 地址： | 101102 北京市通州区中关村科技*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种总氮测定仪，包括光源组件、滤光片组、比色池以及光电处理部，所述光源组件包括光源灯，所述光源灯发射的光线经光源组件处理后得到一束平行光，作为测试分析用的光源；所述滤光片组中包括若干个窄带干涉滤光片，通过使所述滤光片组发生位移以将特定的窄带干涉滤光片对准所述一束平行光，所述一束平行光通过滤光片组中特定的窄带干涉滤光片后，得到特定波长的紫外光。本发明的有益效果：光路系统性能稳定，不受使用条件和环境等外因干扰；本发明结构设计的特点能保证光学精度性能、提高波长及相关参数稳定性的同时，降低了生产技术难度和成本，适合大规模量产和推广。 | ||
| 搜索关键词： | 滤光片组 窄带干涉滤光片 光源组件 平行光 总氮测定 光源灯 波长 紫外光 测试分析 光电处理 光路系统 生产技术 相关参数 比色池 量产 光源 对准 发射 保证 | ||
【主权项】：
1.一种总氮测定仪，其特征在于，包括：光源组件（1），其发出一束平行光；滤光片组（2），其与所述一束平行光垂直，所述滤光片组（2）中包括若干个窄带干涉滤光片（10），通过使所述滤光片组（2）发生位移将特定的窄带干涉滤光片（10）对准所述一束平行光，所述一束平行光通过滤光片组中特定的窄带干涉滤光片（10）后，得到特定波长的紫外光；比色池（3），其置于所述滤光片组（2）后方或置于所述光源组件（1）与所述滤光片组（2）之间；和光电处理部（4），其置于滤光片组（2）以及比色池（3）的后方，光电处理部（4）接收经过滤光片组（2）滤波以及比色池（3）吸收所获得的紫外光并进行处理，然后发送给主控系统。
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