[发明专利]一种总氮测定仪

权利要求书

1.一种总氮测定仪，其特征在于，包括：

光源组件（1），其发出一束平行光；

滤光片组（2），其与所述一束平行光垂直，所述滤光片组（2）中包括若干个窄带干涉滤光片（10），通过使所述滤光片组（2）发生位移将特定的窄带干涉滤光片（10）对准所述一束平行光，所述一束平行光通过滤光片组中特定的窄带干涉滤光片（10）后，得到特定波长的紫外光；

比色池（3），其置于所述滤光片组（2）后方或置于所述光源组件（1）与所述滤光片组（2）之间；和

光电处理部（4），其置于滤光片组（2）以及比色池（3）的后方，光电处理部（4）接收经过滤光片组（2）滤波以及比色池（3）吸收所获得的紫外光并进行处理，然后发送给主控系统。

2.根据权利要求1所述的一种总氮测定仪，其特征在于，所述比色池（3）后设置有半透半反镜（9），所述光源组件（1）发出的一束平行光穿过所述比色池（3）后经所述半透半反镜（9）处理，形成两束光，并分别垂直通过两个相互独立的窄带干涉滤光片（10）后被对应的两组光电处理部（4）接收。

3.根据权利要求1或权利要求2所述的一种总氮测定仪，其特征在于，所述光源组件（1）包括光源灯（5），光源灯（5）采用含紫外连续光谱的氘灯、氙灯、复合元素灯。

4.根据权利要求3所述的一种总氮测定仪，其特征在于，所述光源组件（1）还包括双凸透镜，光源灯（5）置于所述双凸透镜焦平面上，以将光源灯发射的光线进行准直，变为平行光。

5.根据权利要求3所述的一种总氮测定仪，其特征在于，所述光源组件（1）选用对应曲率的双凸透镜，将光源灯（5）聚焦到狭缝上，同时再用相应规格的双凸透镜做为准直镜（7），狭缝处于准直镜（7）焦平面上，将光源灯（5）发射的光线进行准直，变为平行光。

6.根据权利要求3所述的一种总氮测定仪，其特征在于，所述光源组件（1）采用将光源灯（5）置于平凹反射镜（8）曲率半径上，通过调节平凹反射镜（8）旋转角度，使光线通过狭缝（6），狭缝（6）位于平凹反射镜（8）焦点上，同时再用相应规格的双凸透镜做为准直镜（7），狭缝（6）处于准直镜（7）焦平面上，将光源灯（5）发射的光线进行准直，变为平行光。

7.根据权利要求1所述的一种总氮测定仪，其特征在于，所述窄带干涉滤光片（10）的中心波长误差小于1nm，光谱半宽小于2nm。

8.根据权利要求1所述的一种总氮测定仪，其特征在于，所述滤光片组（2）为旋转结构，若干个所述窄带干涉滤光片（10）沿周向分布在所述滤光片组（2）上，所述圆形滤光片组（2）通过旋转实现切换窄带干涉滤光片（10）。

9.根据权利要求1所述的一种总氮测定仪，其特征在于，所述滤光片组（2）为滑动结构，若干个所述窄带干涉滤光片（10）沿滑动方向分布在所述方形滤光片组（2）上，所述方形滤光片组（2）通过滑动实现切换窄带干涉滤光片（10）。