[发明专利]一种抛光石英晶片浅划痕检测的装置与方法在审
申请号: | 201811507371.3 | 申请日: | 2018-12-10 |
公开(公告)号: | CN110006919A | 公开(公告)日: | 2019-07-12 |
发明(设计)人: | 余建安;陈浙泊;林晨宽;陈镇元;吴荻苇 | 申请(专利权)人: | 浙江大学台州研究院 |
主分类号: | G01N21/95 | 分类号: | G01N21/95;G01N21/01 |
代理公司: | 杭州天昊专利代理事务所(特殊普通合伙) 33283 | 代理人: | 董世博 |
地址: | 318001 浙*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | 本发明公开了一种抛光石英晶片浅划痕检测的装置与方法,其中装置包括进料筒、取片圆盘、定位模块、取片吸头、检测圆盘、正面检测模块、背面检测模块、放片吸头以及收片盒,其中,进料筒,用于在主程序的控制下,通过一定振动频率将抛光片撒到取片圆盘上;取片圆盘,设置为精确正反转动一定小角度的圆盘,将抛光片无序均匀地散布所述取片圆盘上以备逐片拾取;定位模块,所述定位模块包括定位相机、镜头及光源,位于取片圆盘上方,用于对取片圆盘上的抛光片定位成像,从而计算出抛光片的坐标,坐标包括步进量和转动角度。 | ||
搜索关键词: | 取片 抛光片 定位模块 划痕检测 检测模块 抛光石英 进料筒 晶片 吸头 定位相机 振动频率 正反转动 步进量 收片盒 主程序 拾取 逐片 成像 光源 转动 背面 散布 镜头 检测 | ||
【主权项】:
1.一种抛光石英晶片浅划痕检测的装置,其特征在于,包括进料筒、取片圆盘、定位模块、取片吸头、检测圆盘、正面检测模块、背面检测模块、放片吸头以及收片盒,其中:进料筒,用于在主程序的控制下,通过一定振动频率将抛光片撒到取片圆盘上;取片圆盘,设置为精确正反转动一定小角度的圆盘,将抛光片无序均匀地散布所述取片圆盘上以备逐片拾取;定位模块,所述定位模块包括定位相机、镜头及光源,位于取片圆盘上方,用于对取片圆盘上的抛光片定位成像,从而计算出抛光片的坐标,坐标包括步进量和转动角度;取片吸头,固定于直线步进电机上的真空吸头,配合取片圆盘根据所述转动角度转动的同时,根据所述步进量步进到取片圆盘上的抛光片位置,从而准确的到达待拾取抛光片上方,通过真空吸放动作,将抛光片取到检测圆盘上;检测圆盘,按照一定角度转动的特制铝盘,用于承载抛光片进行正反两面的外观检测;正面检测模块,所述正面检测模块包括正面相机、镜头及光源,位于检测圆盘上方,对检测圆盘上的抛光片上表面成像检测;背面检测模块,所述背面检测模块包括背面相机、镜头及光源,位于检测圆盘下方对检测圆盘上的抛光片下表面成像检测;放片吸头,固定于直线步进电机上的真空吸头,用于将检测完毕的抛光片移送到不同检测结果的收片盒中;收片盒,排列于放片吸头运动路径上的若干片盒,用于将不同分类的抛光片收集起来。
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