[发明专利]一种太赫兹辐射体法向发射率的准光测量系统和方法有效

专利信息
申请号: 201811478079.3 申请日: 2018-12-05
公开(公告)号: CN109613343B 公开(公告)日: 2020-10-27
发明(设计)人: 程春悦;陈玲;邢晓芸 申请(专利权)人: 北京无线电计量测试研究所
主分类号: G01R29/08 分类号: G01R29/08
代理公司: 北京国昊天诚知识产权代理有限公司 11315 代理人: 马骥;南霆
地址: 100854 北京市海*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 本申请公开了一种太赫兹辐射体法向发射率的准光测量系统和方法。所述系统,包括:第一收发单元、第二收发单元、第一凹面反射镜、第二凹面反射镜、第一极化栅网、第二极化栅网、被测物:所述第一收发单元、第二收发单元,用于电磁波的发射,和第一及第二反射路径上反射电磁波的接收;所述第一凹面反射镜、第二凹面反射镜,用于波束汇聚;所述第一极化栅网、第二极化栅网,用于极化选择和波束分离;所述被测物包括金属板和辐射体。本申请还提供了一种使用以上系统的方法。与现有太赫兹辐射体法向发射率测量装置和方法比较,本申请具有提升动态范围、避免系统性误差影响的优点。
搜索关键词: 一种 赫兹 辐射体 发射 测量 系统 方法
【主权项】:
1.一种太赫兹辐射体法向发射率的准光测量系统,其特征在于,包括:第一收发单元、第二收发单元、第一凹面反射镜、第二凹面反射镜、第一极化栅网、第二极化栅网、被测物:第一收发单元、第一凹面反射镜、第一极化栅网构成第一发射路径,第二收发单元、第二凹面反射镜、第一极化栅网构成第二发射路径,第一极化栅网、第一凹面反射镜、第一收发单元构成第一反射路径,第一极化栅网、第二凹面反射镜、第二收发单元构成第二反射路径;所述第一收发单元,用于在第一发射路径上生成入射电磁波,和在第一反射路径上接收反射电磁波;所述第二收发单元,用于在第二发射路径上生成入射电磁波,和在第二反射路径上接收反射电磁波;所述第一凹面反射镜,用于对第一发射路径上的入射电磁波进行波束汇聚、送至第一极化栅网,以及将第一反射路径上的反射电磁波送至第一收发单元;所述第二凹面反射镜,用于对第二发射路径上的入射电磁波进行波束汇聚、送至第一极化栅网,以及将第二反射路径上的反射电磁波送至第二收发单元;所述第一极化栅网的线栅方向与第一发射路径的入射电磁波极化方向垂直,且与第二发射路径的入射电磁波极化方向平行,用于将第一发射路径或第二发射路径的入射电磁波进行极化选择后送至第二极化栅网,以及将经所述第二极化栅网极化选择的反射电磁波进行波束分离后送至第一反射路径和第二反射路径;所述第二极化栅网所在平面与所述第一极化栅网所在平面垂直,且线栅方向和所述第一极化栅网的线栅方向成45°,用于对来自所述第一极化栅网的入射电磁波进行极化选择后送至测试位置,以及对反射电磁波进行极化选择后送至第一极化栅网;所述被测物包括金属板和辐射体,放置在测试位置,且与来自第二极化栅网的入射电磁波传播方向垂直,用于对来自第二极化栅网的入射电磁波进行反射,生成反射电磁波。
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