[发明专利]一种太赫兹辐射体法向发射率的准光测量系统和方法

权利要求书

1.一种太赫兹辐射体法向发射率的准光测量系统，其特征在于，包括：第一收发单元、第二收发单元、第一凹面反射镜、第二凹面反射镜、第一极化栅网、第二极化栅网、被测物：

第一收发单元、第一凹面反射镜、第一极化栅网构成第一发射路径，第二收发单元、第二凹面反射镜、第一极化栅网构成第二发射路径，第一极化栅网、第一凹面反射镜、第一收发单元构成第一反射路径，第一极化栅网、第二凹面反射镜、第二收发单元构成第二反射路径；

所述第一收发单元，用于在第一发射路径上生成入射电磁波，和在第一反射路径上接收反射电磁波；

所述第二收发单元，用于在第二发射路径上生成入射电磁波，和在第二反射路径上接收反射电磁波；

所述第一凹面反射镜，用于对第一发射路径上的入射电磁波进行波束汇聚、送至第一极化栅网，以及将第一反射路径上的反射电磁波送至第一收发单元；

所述第二凹面反射镜，用于对第二发射路径上的入射电磁波进行波束汇聚、送至第一极化栅网，以及将第二反射路径上的反射电磁波送至第二收发单元；

所述第一极化栅网的线栅方向与第一发射路径的入射电磁波极化方向垂直，且与第二发射路径的入射电磁波极化方向平行，用于将第一发射路径或第二发射路径的入射电磁波进行极化选择后送至第二极化栅网，以及将经所述第二极化栅网极化选择的反射电磁波进行波束分离后送至第一反射路径和第二反射路径；

所述第二极化栅网所在平面与所述第一极化栅网所在平面垂直，且线栅方向和所述第一极化栅网的线栅方向成45°，用于对来自所述第一极化栅网的入射电磁波进行极化选择后送至测试位置，以及对反射电磁波进行极化选择后送至第一极化栅网；

所述被测物包括金属板和辐射体，放置在测试位置，且与来自第二极化栅网的入射电磁波传播方向垂直，用于对来自第二极化栅网的入射电磁波进行反射，生成反射电磁波。

2.如权利要求1所述的系统，其特征在于，还包括背景吸收负载，用于在第二次极化选择后，将分离出的不进入测试位置的电磁波进行吸收。

3.如权利要求1所述的系统，其特征在于，所述第一凹面反射镜和第二凹面反射镜，是椭球镜面或离轴抛物面镜。

4.如权利要求1所述的系统，其特征在于，还包括位移台，用于在测试位置上固定和移动被测物。

5.如权利要求1所述的系统，其特征在于，所述第一收发单元和第二收发单元分别是由网络分析仪的两个端口加天线组成。

6.如权利要求5所述的系统，其特征在于，所述天线是线极化天线。

7.一种太赫兹辐射体法向发射率的准光测量方法，使用权利要求1～6任意一项所述系统，其特征在于，包括以下步骤：

以金属板作为被测物，放置在测试位置；

沿第一发射路径发射电磁波，第二发射路径关闭，经波束汇聚、极化选择后，到达测试位置，产生反射电磁波；

将反射电磁波进行波束分离，分别送至第一反射路径和第二反射路径，进行接收，第一反射路径和第二反射路径测得的反射数值分别为第一参考反射值和第二参考反射值；

沿第二发射路径发射电磁波，第一发射路径关闭，重复以上步骤，第一反射路径和第二反射路径测得的反射数值分别为第三参考反射值和第四参考反射值；

以辐射体作为被测物，重复以上步骤，沿第一发射路径发射电磁波、第二发射路径关闭时，第一反射路径和第二反射路径测得的反射数值分别为第一被测反射值和第二被测反射值；沿第二发射路径发射电磁波、第一发射路径关闭时，第一反射路径和第二反射路径测得的反射数值分别为第三被测反射值和第四被测反射值；

单次辐射体法向发射率等于任一路径在电磁波来源相同时测得的被测反射值与参考反射值之比。

8.如权利要求7所述的方法，其特征在于，辐射体法向发射率等于单次辐射体法向发射率的平均值。