[发明专利]电子产品测试系统和测试方法在审
| 申请号： | 201811445342.9 | 申请日： | 2018-11-29 |
| 公开（公告）号： | CN111239583A | 公开（公告）日： | 2020-06-05 |
| 发明（设计）人： | 高鑫;江厚成 | 申请（专利权）人： | 希姆通信息技术（上海）有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R1/04 |
| 代理公司： | 上海弼兴律师事务所 31283 | 代理人： | 薛琦;何桥云 |
| 地址： | 200335 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种电子产品测试系统和测试方法。电子产品测试系统包括：多条主流水线，各所述主流水线沿着与所述主流水线的流动方向垂直的方向并排设置；以及多个测试工位，各测试工位沿多条所述主流水线的流动方向间隔排列，每个所述测试工位设有搬运设备以及测试设备，所述测试设备设置在多条所述主流水线的侧边，所述搬运设备用于在所述主流水线与所述测试设备之间搬运产品。多条主流水线并排设置，具有同样的上料端以及下料端，沿线设有多个测试工位，这样多个测试产品能够在上料端上料，并在多条主流水线的运输下到达多个测试工位进行测试，并在下料端下料，效率较高。 | ||
| 搜索关键词： | 电子产品 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
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