[发明专利]电子产品测试系统和测试方法

说明书

本发明公开了一种电子产品测试系统和测试方法。电子产品测试系统包括：多条主流水线，各所述主流水线沿着与所述主流水线的流动方向垂直的方向并排设置；以及多个测试工位，各测试工位沿多条所述主流水线的流动方向间隔排列，每个所述测试工位设有搬运设备以及测试设备，所述测试设备设置在多条所述主流水线的侧边，所述搬运设备用于在所述主流水线与所述测试设备之间搬运产品。多条主流水线并排设置，具有同样的上料端以及下料端，沿线设有多个测试工位，这样多个测试产品能够在上料端上料，并在多条主流水线的运输下到达多个测试工位进行测试，并在下料端下料，效率较高。

技术领域

本发明涉及一种电子产品测试系统和测试方法。

背景技术

芯片是半导体元件产品的统称，一般是指集成电路(IC,integrated circuit)的载体，由晶圆分割而成，在电子领域具有很广泛的运用。芯片生产过程中需要经历多次测试，以保证各种功能的可靠性。而现有技术中，芯片等电子产品的测试，一般采用单条流水线运输，效率较低，无法满足日益增长的测试需求。

发明内容

本发明要解决的技术问题是为了克服现有技术中的缺陷，提供一种电子产品测试系统和测试方法。

本发明是通过下述技术方案来解决上述技术问题：

一种电子产品测试系统，其特点在于，其包括：

多条主流水线，各所述主流水线沿着与所述主流水线的流动方向垂直的方向并排设置；以及

多个测试工位，各测试工位沿多条所述主流水线的流动方向间隔排列，每个所述测试工位设有搬运设备以及测试设备，所述测试设备设置在多条所述主流水线的侧边，所述搬运设备用于在所述主流水线与所述测试设备之间搬运产品。

较佳地，所述主流水线包括串联的多段主流水分线。

采用如上设置，保证较长的主流水线的结构可靠性，同时多段主流水分线能够分开、独立控制，可以根据需求进行不同的速度调节。

较佳地，每个所述测试工位还设有若干条辅流水线。

采用上述设置，辅流水线可以执行一些诸如缓存、复测、回收的功能。

较佳地，所述辅流水线设置在多条所述主流水线之间。

采用上述设置，布局更加合理。

较佳地，所述搬运设备设置在所述辅流水线的上方。

采用上述设置，搬运设备不占用地面面积，使得布局更加紧凑。

较佳地，所述辅流水线包括：

缓存流水线，所述缓存流水线用于运输所述测试设备无法及时测试的待测试产品；和/或

复测流水线，所述复测流水线用于运输待复测产品；和/或

回收流水线，所述回收流水线用于运输不合格产品。

采用上述设置，可以使得测试效率更高，也利于对不合格产品的回收，不易混淆。

较佳地，所述辅流水线包括：缓存流水线、复测流水线以及回收流水线，所述缓存流水线与所述复测流水线并排设置，所述回收流水线位于所述缓存流水线的一端或所述复测流水线的一端。

采用上述设置，更加符合测试节拍。

较佳地，每个所述测试工位设有多个测试设备，多个所述测试设备设置在多条所述主流水线的两侧。

较佳地，多个所述测试设备以所述搬运设备为中心呈圆周排列。

采用上述设置，使得搬运设备主要为圆周运动，运动效率较高。

较佳地，所述搬运设备为机械手。