[发明专利]一种背钻深度的光学检测方法及检测装置有效
| 申请号： | 201811421064.3 | 申请日： | 2018-11-27 |
| 公开（公告）号： | CN109540020B | 公开（公告）日： | 2020-09-25 |
| 发明（设计）人： | 牛顺义;沈岳峰;朱忠翰;管美章;崔良端;陈彦青;戴银海;彭腾;范晓春;邓建;李燚 | 申请（专利权）人： | 安徽四创电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/22 | 分类号： | G01B11/22 |
| 代理公司： | 合肥和瑞知识产权代理事务所(普通合伙) 34118 | 代理人： | 王挺 |
| 地址： | 230088 安徽省合肥*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： |
本发明涉及PCB的背钻深度的检测领域，尤其是一种背钻深度的光学检测方法及检测装置，包括：检测仪器在同一时刻向工作板的背钻孔面垂直地发射多个光束脉冲，并将光束脉冲的开始发射时间设为0s；检测仪器接收各个光束脉冲的反射光束脉冲进行，且记录各反射光束脉冲的接收时间；其中，接收时间的最大值为T |
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| 搜索关键词： | 一种 深度 光学 检测 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种背钻深度的光学检测方法，其特征在于，包括以下具体步骤：S1，检测仪器(1)在同一时刻向工作板(2)的背钻孔(20)面垂直地发射多个光束脉冲，并将光束脉冲的开始发射时间设为0s；所述检测仪器(1)为集发射与接收为一体的脉冲收发一体机，用于接收和发射光束脉冲；所述工作板(2)为PCB板，且该PCB板上设有待检测深度的背钻孔(20)；工作板(2)的背钻孔(20)面为PCB板的上下两面中含有背钻孔(20)的一面；S2，检测仪器(1)对所发射的各个光束脉冲的反射光束脉冲进行接收，且检测仪器记录各反射光束脉冲的接收时间，并对各反射光束脉冲的接收时间的大小进行排序；其中，接收时间的最大值为Tmax，接收时间的最小值为Tmin；S3，根据各反射光束脉冲的接收时间中的最大值Tmax和最小值Tmin，以及根据光束脉冲的传播速度V和钻该背钻孔(20)的钻针的角度θ，计算该背钻孔(20)的深度H，具体计算方式如下所示：![]()
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