[发明专利]一种针对通道IQ自动校正功能的测试方法及系统有效
| 申请号： | 201811405743.1 | 申请日： | 2018-11-23 |
| 公开（公告）号： | CN109274468B | 公开（公告）日： | 2021-04-16 |
| 发明（设计）人： | 彭立军;罗伟;周家喜;张靖;郑雨阳;顾钰 | 申请（专利权）人： | 中国电子科技集团公司第三十八研究所 |
| 主分类号： | H04L1/24 | 分类号： | H04L1/24 |
| 代理公司： | 合肥昊晟德专利代理事务所(普通合伙) 34153 | 代理人： | 王林 |
| 地址： | 230000 安徽省合*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种针对通道IQ自动校正功能的测试方法及系统，信号源发射连续的测试信号，包括I路发送的单载波信号和Q路发送的0信号；对测试信号进行相位旋转，其中旋转的相位角度按一定的间隔遍历360°，并将该信号发送给待测试通道；对待测试通道的信号进行大量采样，然后分别进行定量和定性分析。本发明提出的测试系统和测试方法，对于不同的系统，既可以通过简单的定性分析迅速得出通道的大体性能，又可以通过定量分析，满足不同通信系统的精细要求。同时测试方法简单，降低测试难度，简化了测试系统，使得能够集成在各种通信系统中，提高测试方法的通用性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 针对 通道 iq 自动 校正 功能 测试 方法 系统 | ||
【主权项】：
1.一种针对通道IQ自动校正功能的测试方法，其特征在于，包括以下步骤：(1)信号源发射连续的测试信号，包括I路发送的单载波信号和Q路发送的0信号；(2)对测试信号进行相位旋转，其中旋转的相位角度按一定的间隔遍历360°，并将该信号发送给待测试通道；(3)对待测试通道的信号进行大量采样，然后分析如下：(31)对采样数据做星座图，如果发送端的相位发生变化，而接收信号对应的星座图形状也发生相同相位变化，则说明没有IQ自动校正功能；如果接收信号星座图形状与发射端相位变化不一致，则测试通道具备IQ自动校正功能；(32)对于每次发射端相位变化，计算对应接收端采样数据的平均相位值，如果前后相位值变化与发射端相同，说明没有IQ自动校正功能；如果接收端采样数据的平均相位值与发射端相位变化不一致，说明测试通道具备IQ自动校正功能。
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