[发明专利]一种针对通道IQ自动校正功能的测试方法及系统

权利要求书

1.一种针对通道IQ自动校正功能的测试方法，其特征在于，包括以下步骤：

(1)信号源发射连续的测试信号，包括I路发送的单载波信号和Q路发送的0信号；

(2)对测试信号进行相位旋转，其中旋转的相位角度按一定的间隔遍历360°，并将该信号发送给待测试通道；

(3)对待测试通道的信号进行大量采样，然后分析如下：

(31)对采样数据做星座图，如果发射端的相位发生变化，而接收信号对应的星座图形状也发生相同相位变化，则说明没有IQ自动校正功能；

如果接收信号星座图形状与发射端相位变化不一致，则测试通道具备IQ自动校正功能；

(32)对于每次发射端相位变化，计算对应接收端采样数据的平均相位值，如果前后相位值变化与发射端相同，说明没有IQ自动校正功能；

如果接收端采样数据的平均相位值与发射端相位变化不一致，说明测试通道具备IQ自动校正功能。

2.根据权利要求1所述的一种针对通道IQ自动校正功能的测试方法，其特征在于，所述步骤(31)中，如果接收信号星座图形状总是集中于[(0,1),(0,-1)],[(1,0),(-1,0)],[(1,1),(-1,-1)],[(-1,1),(1,-1)]这四条线，说明测试通道具备IQ自动校正功能。

3.根据权利要求2所述的一种针对通道IQ自动校正功能的测试方法，其特征在于，如果接收信号星座图形状集中程度越高，形状越狭窄，说明性能越好。

4.根据权利要求1所述的一种针对通道IQ自动校正功能的测试方法，其特征在于，所述步骤(32)中，采样数据为：X₁，X₂，…X_m，m＝1,2,3,…M；计算平均相位值为：

5.根据权利要求4所述的一种针对通道IQ自动校正功能的测试方法，其特征在于，如果接收端采样数据的平均相位值始终围绕-π/2，-π/4，0，π/4，π/2，说明测试通道具备IQ自动校正功能。

6.根据权利要求5所述的一种针对通道IQ自动校正功能的测试方法，其特征在于，如果接收端采样数据的平均相位值的方差越小，说明性能越好。

7.一种使用如权利要求1～6任一项所述的针对通道IQ自动校正功能的测试方法进行测试的系统，其特征在于，包括测试信号源模块、相位旋转模块和信号分析模块；所述测试信号源模块产生满足测试要求的连续单载波信号；所述相位旋转模块按照测试需要将单载波信号的相位进行旋转，所述信号分析模块对通过被测通道之后的数据进行采样分析，判定该通道是否具备IQ自动校正功能，以及该功能的具体性能。