[发明专利]一种基于硅基半导体器件均匀MXene薄膜的制备方法及其在忆阻器的应用有效

专利信息
申请号: 201811365078.8 申请日: 2018-11-15
公开(公告)号: CN109560195B 公开(公告)日: 2022-08-30
发明(设计)人: 张缪城;王宇;沈心怡;何南;童祎;连晓娟;万相 申请(专利权)人: 南京邮电大学
主分类号: H01L45/00 分类号: H01L45/00
代理公司: 南京苏科专利代理有限责任公司 32102 代理人: 姚姣阳
地址: 210023 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明揭示了一种基于硅基半导体器件均匀MXene薄膜的制备方法及其在忆阻器的应用,首先将二维MXene粉末和二甲基亚砜溶液超声混合均匀得到混合分散液,然后再利用甩胶的方法在具有疏水性的硅片生长了一层均匀致密的MXene薄膜,极大地扩展了MXene这种二维材料在硅基半导体器件上的应用前景。最后成功用这种方法制备出了以MXene为介变层的忆阻器单一器件,推动了忆阻器新型二维材料的介变层的研究进展。本发明制备出的均匀MXene薄膜,具有良好的稳定性、较高的导电性、稳定性、机械性能,所述方法简单、成本低廉、适合大规模应用。
搜索关键词: 一种 基于 半导体器件 均匀 mxene 薄膜 制备 方法 及其 忆阻器 应用
【主权项】:
1.一种基于硅基半导体器件均匀MXene薄膜的制备方法,其特征在于:该方法包括如下步骤:S1:向10ml离心管中加入MXene粉末和二甲基亚砜溶液;S2:将S1步骤得到的混合溶液进行超声混合,超声混合时间为30min,然后打开甩胶机将硅片放置于甩胶机上,转速设为200转,用胶头滴管将混合溶液的上清液匀速滴到硅片上;S3:加大甩胶机转速,60s后关闭甩胶机,然后取出硅片进行加热烘干,得到均匀MXene薄膜。
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