[发明专利]一种光调制分析仪通道时延测量装置及方法在审
| 申请号： | 201811359488.1 | 申请日： | 2018-11-15 |
| 公开（公告）号： | CN109347552A | 公开（公告）日： | 2019-02-15 |
| 发明（设计）人： | 张洪喜;朱兴邦 | 申请（专利权）人： | 中国电子科技集团公司第四十一研究所 |
| 主分类号： | H04B10/079 | 分类号： | H04B10/079 |
| 代理公司： | 北京捷诚信通专利事务所(普通合伙) 11221 | 代理人： | 李慧 |
| 地址： | 266555 山东省*** | 国省代码： | 山东;37 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提出了一种光调制分析仪通道时延测量装置，包括：共腔扫频光源、偏振控制器、频谱分析仪和光调制分析仪；所述偏振控制器用于调节光调制分析仪的混频响应度；所述频谱分析仪用于测量信号光和本振光的拍频频率；所述共腔扫频光源输出的本振光和信号光对光调制分析仪的X偏振IQ光混频器和Y偏振IQ光混频器的各通道进行相位差扫频测量，所述光调制分析仪对得到的相位差扫频点进行线性拟合，拟合直线的斜率除以360即为被测通道间的通道时延。本发明提出使用共腔扫频光源，采用相位差扫频技术，拟合计算出光调制分析仪的通道时延，测量重复性达到ps量级。 | ||
| 搜索关键词： | 光调制 扫频 通道时延 分析仪 相位差 共腔 偏振控制器 频谱分析仪 测量装置 光混频器 本振光 偏振 光源 测量重复性 测量信号 光源输出 拟合计算 拟合直线 线性拟合 扫频点 响应度 信号光 分析 混频 调制 测量 | ||
【主权项】：
1.一种光调制分析仪通道时延测量装置，其特征在于，包括：共腔扫频光源、偏振控制器、频谱分析仪和光调制分析仪；所述偏振控制器用于调节光调制分析仪的混频响应度；所述频谱分析仪用于测量信号光和本振光的拍频频率；所述共腔扫频光源输出的本振光和信号光对光调制分析仪的X偏振IQ光混频器和Y偏振IQ光混频器的各通道进行相位差扫频测量，所述光调制分析仪对得到的相位差扫频点进行线性拟合，拟合直线的斜率除以360即为被测通道间的通道时延。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国电子科技集团公司第四十一研究所，未经中国电子科技集团公司第四十一研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201811359488.1/，转载请声明来源钻瓜专利网。
