[发明专利]一种光调制分析仪通道时延测量装置及方法

权利要求书

1.一种光调制分析仪通道时延测量装置，其特征在于，包括：共腔扫频光源、偏振控制器、频谱分析仪和光调制分析仪；

所述偏振控制器用于调节光调制分析仪的混频响应度；

所述频谱分析仪用于测量信号光和本振光的拍频频率；

所述共腔扫频光源输出的本振光和信号光对光调制分析仪的X偏振IQ光混频器和Y偏振IQ光混频器的各通道进行相位差扫频测量，所述光调制分析仪对得到的相位差扫频点进行线性拟合，拟合直线的斜率除以360即为被测通道间的通道时延。

2.如权利要求1所述的装置，其特征在于，所述光调制分析仪包括：

被测信号光进入光调制分析仪后，首先经过偏振分束器进行偏振分束，信号光分为两路分别进入X偏振IQ光混频器和Y偏振IQ光混频器，同时本振光经过光分束器后也分为两路并分别进入X偏振IQ光混频器和Y偏振IQ光混频器，在X偏振IQ光混频器和Y偏振IQ光混频器中，本振光和信号光进行混频，外差信号通过光电探测器进行平衡探测，完成矢量调制信号光场到电场的线性搬移，然后经变频转换成基频信号，再分离出I信号和Q信号，然后将信号数字化，再由高速采样系统进行数据采集和算法解调，最后经数字滤波及计算得出各种参数的测量结果。

3.如权利要求1所述的装置，其特征在于，所述共腔扫频光源采用PDH激光稳频将本振激光器的频率锁定到一个F-P腔的共振频率上，然后采用偏频锁定将信号激光器的频率锁定到本振激光器的频率上，同时改变信号激光器相对于本振激光器的频率差，获得信号光相对于本振光产生30GHz的扫频输出。

4.如权利要求3所述的装置，其特征在于，信号光和本振光的拍频频率由所述共腔扫频光源的拍频信号电口输出端输出，直接由频谱分析仪准确测得。

5.一种基于权利要求1至4任一项所述装置的光调制分析仪通道时延测量方法，其特征在于，包括以下步骤：

步骤一，设置共腔扫频光源输出信号光和本振光的波长；

步骤二，调整共腔扫频光源，使得本振光锁定到F-P腔的谐振频率上，并使得信号光锁定到本振光上；

步骤三，调整偏振控制器使光调制分析仪X偏振IQ光混频器响应度最大；

步骤四，设置光调制分析仪为XI-XQ通道相位测量模式；

步骤五，调整共腔扫频光源的信号光可调谐激光器的波长，使得频谱分析仪测得的信号光与本振光的差频频率为预设值，并重新将信号光与本振光锁定；

步骤六，通过光调制分析仪测得相应频率的通道相位差；

步骤七，调整共腔扫频光源的信号光可调谐激光器的波长，使得频谱分析仪测得的信号光与本振光的差频频率为(0.5×i)GHz(i＝2，3，…，10)，并重新将信号光与本振光锁定；

步骤八，重复执行步骤六和步骤七，获得通道相位差-频率曲线；

步骤九，上述通道相位差-频率曲线斜率除以360，获得光调制分析仪相应通道间的通道时延；

步骤十，重复执行步骤四～步骤九，得到光调制分析仪各个通道间的通道时延。