[发明专利]一种半导体器件及其制造方法有效
申请号: | 201811339575.0 | 申请日: | 2018-11-12 |
公开(公告)号: | CN109461737B | 公开(公告)日: | 2020-09-29 |
发明(设计)人: | 陈亮;刘威;吴昕;甘程 | 申请(专利权)人: | 长江存储科技有限责任公司 |
主分类号: | H01L27/11551 | 分类号: | H01L27/11551;H01L27/11578 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 党丽;王宝筠 |
地址: | 430074 湖北省武汉市东湖*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | 本发明提供一种半导体器件及其制造方法,在衬底中形成了贯通衬底的绝缘环,绝缘环内的衬底作为电容结构的第一极板,在第一极板中形成了贯通的通孔,贯通的通孔的侧壁上形成有介质层且填充有导电层,进而通过引出结构将第一极板引出,以及通过第二引出结构电连接所有的导电层一并引出,形成了由所有导电层并联电容结构的第二极板,通孔中的介质层为两电容结构的极板间的绝缘层,通过引出结构即可以实现对该电容结构的连接及使用。该电容结构具有更大的容量,同时,可以通过引出结构并联通孔中的导电层实现任意所需容量的电容,具有更好的扩展性,从而,可以在更小的芯片面积上形成更大容量的电容结构,有效提高芯片的集成度。 | ||
搜索关键词: | 一种 半导体器件 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
1.一种半导体器件,其特征在于,包括:第一半导体衬底;贯通所述第一半导体衬底的绝缘环,所述绝缘环内的第一半导体衬底为第一极板;贯通所述第一极板的通孔,所述通孔的内壁上的介质层以及填充所述通孔的导电层;电连接所述第一极板的第一引出结构;电连接所有导电层的第二引出结构,电连接的所有导电层为第二极板。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
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