[发明专利]一种半导体器件及其制造方法有效

专利信息
申请号: 201811339575.0 申请日: 2018-11-12
公开(公告)号: CN109461737B 公开(公告)日: 2020-09-29
发明(设计)人: 陈亮;刘威;吴昕;甘程 申请(专利权)人: 长江存储科技有限责任公司
主分类号: H01L27/11551 分类号: H01L27/11551;H01L27/11578
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 党丽;王宝筠
地址: 430074 湖北省武汉市东湖*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明提供一种半导体器件及其制造方法,在衬底中形成了贯通衬底的绝缘环,绝缘环内的衬底作为电容结构的第一极板,在第一极板中形成了贯通的通孔,贯通的通孔的侧壁上形成有介质层且填充有导电层,进而通过引出结构将第一极板引出,以及通过第二引出结构电连接所有的导电层一并引出,形成了由所有导电层并联电容结构的第二极板,通孔中的介质层为两电容结构的极板间的绝缘层,通过引出结构即可以实现对该电容结构的连接及使用。该电容结构具有更大的容量,同时,可以通过引出结构并联通孔中的导电层实现任意所需容量的电容,具有更好的扩展性,从而,可以在更小的芯片面积上形成更大容量的电容结构,有效提高芯片的集成度。
搜索关键词: 一种 半导体器件 及其 制造 方法
【主权项】:
1.一种半导体器件,其特征在于,包括:第一半导体衬底;贯通所述第一半导体衬底的绝缘环,所述绝缘环内的第一半导体衬底为第一极板;贯通所述第一极板的通孔,所述通孔的内壁上的介质层以及填充所述通孔的导电层;电连接所述第一极板的第一引出结构;电连接所有导电层的第二引出结构,电连接的所有导电层为第二极板。
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