[发明专利]一种空间任意姿态下两立方镜相对姿态的动态测量方法

摘要

本发明属于空间位置关系测量领域并公开了一种空间任意姿态下两立方镜相对姿态的动态测量方法；具体包括：利用光电自准直仪测量输出，得到光轴与反射面法线的平行关系，再利用倾角测量模块得到光电自准直仪光轴与地理坐标系水平面的相对关系。如此可以由G1、G2、G3、G4分别得到L1的Y轴、X轴、L2的X轴、L2的Y轴倾角。再由G5对P的测量得到L1与L2的方位关系；本发明方法简单、可靠，倾角测量模块与光电自准直仪相结合，克服了现有技术中电子经纬仪的倾角测量的量程有限，不能满足任意姿态关系的测量的难题以及现有技术中电子经纬仪只能在静态环境下人工测量的难题。

主权项

1.一种空间任意姿态下两立方镜相对姿态的动态测量方法，其特征在于，包括如下步骤：步骤一：建立待测量的立方镜L1、立方镜L2模型，并使用五套光电自准直仪，所述的光电自准直仪分别为光电自准直仪G1、光电自准直仪G2、光电自准直仪G3、光电自准直仪G4以及光电自准直仪G5；步骤二：所述的光电自准直仪G1使用倾角测量模块E1，所述的光电自准直仪G2使用倾角测量模块E2，所述的光电自准直仪G3与光电自准直仪G5固联安装并共用倾角测量模块E3，所述的光电自准直仪G4使用倾角测量模块E4，其中所述的光电自准直仪G2包含固联安装的平面反射镜P；步骤三：将所述的光电自准直仪G1对准立方镜L1的Y轴，将所述的光电自准直仪G2对准立方镜L1的X轴，将所述的光电自准直仪G3对准立方镜L2的X轴，将所述的光电自准直仪G4对准立方镜L2的‑Y轴；步骤四：分别调整光电自准直仪G1、光电自准直仪G2、光电自准直仪G3以及光电自准直仪G4，使其与对应立方镜的反射面法线处于基本平行状态；然后；设计同一时刻光电自准直仪G5对准光电自准直仪G2中固联的平面反射镜P进行测量，便得到立方镜L1与立方镜L2的方位关系。