[发明专利]一种空间任意姿态下两立方镜相对姿态的动态测量方法

权利要求书

1.一种空间任意姿态下两立方镜相对姿态的动态测量方法，其特征在于，包括如下步骤：

步骤一：建立待测量的立方镜L1、立方镜L2模型，并使用五套光电自准直仪，所述的光电自准直仪分别为光电自准直仪G1、光电自准直仪G2、光电自准直仪G3、光电自准直仪G4以及光电自准直仪G5；

步骤二：所述的光电自准直仪G1使用倾角测量模块E1，所述的光电自准直仪G2使用倾角测量模块E2，所述的光电自准直仪G3与光电自准直仪G5固联安装并共用倾角测量模块E3，所述的光电自准直仪G4使用倾角测量模块E4，其中所述的光电自准直仪G2包含固联安装的平面反射镜P；

步骤三：将所述的光电自准直仪G1对准立方镜L1的Y轴，将所述的光电自准直仪G2对准立方镜L1的X轴，将所述的光电自准直仪G3对准立方镜L2的X轴，将所述的光电自准直仪G4对准立方镜L2的-Y轴；

步骤四：分别调整光电自准直仪G1、光电自准直仪G2、光电自准直仪G3以及光电自准直仪G4，使其与对应立方镜的反射面法线处于基本平行状态；然后；设计同一时刻光电自准直仪G5对准光电自准直仪G2中固联的平面反射镜P进行测量，便得到立方镜L1与立方镜L2的方位关系。

2.根据权利要求1所述的一种空间任意姿态下两立方镜相对姿态的动态测量方法，其特征在于，所述的光电自准直仪G1、光电自准直仪G2、光电自准直仪G3、光电自准直仪G4以及光电自准直仪G5均具有双轴倾角测量功能。

3.根据权利要求1所述的一种空间任意姿态下两立方镜相对姿态的动态测量方法，其特征在于，所述的光电自准直仪G1、光电自准直仪G2、光电自准直仪G3以及光电自准直仪G4与对应立方镜的反射面法线的平行度以对应光电自准直仪开机测量有输出的时刻为准。

4.根据权利要求1所述的一种空间任意姿态下两立方镜相对姿态的动态测量方法，其特征在于，所述倾角测量模块与对应光电自准直仪的测量范围为0°-90°。