[发明专利]一种叶片内腔硅基型芯的脱除方法有效
申请号: | 201811265424.5 | 申请日: | 2018-10-29 |
公开(公告)号: | CN111097880B | 公开(公告)日: | 2021-05-18 |
发明(设计)人: | 杨金侠;周亦胄;孙晓峰 | 申请(专利权)人: | 中国科学院金属研究所 |
主分类号: | B22C9/10 | 分类号: | B22C9/10 |
代理公司: | 沈阳优普达知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 21234 | 代理人: | 张志伟 |
地址: | 110016 辽*** | 国省代码: | 辽宁;21 |
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摘要: | 本发明涉及精密铸造和材料制备领域,具体为一种叶片内腔硅基型芯的脱除方法。首先制造容量25Kg的圆筒形脱芯釜,炉膛内壁材料为316L不锈钢及相近合金。然后配制脱芯液,将脱芯液放入脱芯釜中,再将叶片立放于悬挂筛上,浸入脱芯液中。最后合上炉盖,进行加热加压一定时间后检查。使用X光检查叶片内腔型芯残留情况,若有残留,进行二次脱除。本发明解决实际生产工作中出现的叶片表面过于粗糙导致叶片在使用中大量失效的问题。本发明可以直接应用于生产实际,具有很大的实用性和可操作性,显著改善铸件的表面质量和应用性能。 | ||
搜索关键词: | 一种 叶片 内腔硅基型芯 脱除 方法 | ||
【主权项】:
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