[发明专利]光电转换器件、其制造方法和装置有效
申请号: | 201811253732.6 | 申请日: | 2018-10-26 |
公开(公告)号: | CN109728016B | 公开(公告)日: | 2023-03-17 |
发明(设计)人: | 远藤信之 | 申请(专利权)人: | 佳能株式会社 |
主分类号: | H01L27/146 | 分类号: | H01L27/146 |
代理公司: | 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 | 代理人: | 杨小明 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明涉及光电转换器件、其制造方法和装置。一种光电转换器件包括:包含光电转换部分的半导体基板;布置于光电转换部分之上的氧化硅膜;和布置于光电转换部分与氧化硅膜之间的绝缘膜。构成光电转换部分的一部分的n型第一杂质区域和布置于绝缘膜与第一杂质区域之间的p型第二杂质区域被设置在半导体基板中。绝缘膜的第二杂质区域之上的部分和第二杂质区域包含硼。从半导体基板的表面到第二杂质区域中的硼浓度取最小值的第一位置的硼浓度的积分值大于从半导体基板的表面到氧化硅膜的上表面的硼浓度的积分值。 | ||
搜索关键词: | 光电 转换 器件 制造 方法 装置 | ||
【主权项】:
1.一种光电转换器件,其特征在于,包括:包含光电转换部分的半导体基板;布置于所述光电转换部分之上的氧化硅膜;和布置于所述光电转换部分与所述氧化硅膜之间的绝缘膜,其中,构成所述光电转换部分的一部分的n型第一杂质区域和布置于所述绝缘膜与第一杂质区域之间的p型第二杂质区域被设置在半导体基板中,所述绝缘膜的第二杂质区域之上的部分和第二杂质区域包含硼,并且关于与半导体基板的表面相交并且通过第二杂质区域的直线上的硼浓度的轮廓,令第二杂质区域中的硼浓度取最小值的位置为第一位置,则从半导体基板的表面到第一位置的硼浓度的积分值大于从半导体基板的表面到所述氧化硅膜的上表面的硼浓度的积分值。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
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