[发明专利]一种用于二维材料处理的找平装置有效
| 申请号: | 201811229679.6 | 申请日: | 2018-10-22 |
| 公开(公告)号: | CN109524342B | 公开(公告)日: | 2020-10-27 |
| 发明(设计)人: | 陆亚林;王建林;杨萌萌;傅正平;邹维;崔佳萌;赵志博;黄浩亮;黄秋萍 | 申请(专利权)人: | 中国科学技术大学 |
| 主分类号: | H01L21/683 | 分类号: | H01L21/683;H01L21/687 |
| 代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 李海建 |
| 地址: | 230026 安*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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| 摘要: | 本发明公开了一种二维材料处理的找平装置,包括底座、第一旋转平台和用于固定目标基底的第二旋转平台;第一旋转平台可转动地设置在底座上,第二旋转平台可转动地设置在第一旋转平台上,第一旋转平台的转动轴心与第二旋转平台的转动轴心垂直,且第一旋转平台的转动轴心和第二旋转平台的转动轴心分别与底板所在平面平行。上述二维材料处理的找平装置在实际使用过程中,通过第一旋转平台和第二旋转平台在不均匀受力条件下的自主旋转实现能够自找平及完整平贴,自找平方式可靠高效,能够大大提升二维材料对准和转移的效率,并且在二维材料的定点转移和后续光刻工艺过程中,样品与衬底的平面贴合的平整度得到了有效的保证。 | ||
| 搜索关键词: | 一种 用于 二维 材料 处理 找平 装置 | ||
【主权项】:
1.一种二维材料处理的找平装置,其特征在于,包括底座(1)、第一旋转平台(2)和用于固定目标基底(3)的第二旋转平台(4);所述第一旋转平台(2)可转动地设置在所述底座(1)上,所述第二旋转平台(4)可转动地设置在所述第一旋转平台(2)上,所述第一旋转平台(2)的转动轴心与所述第二旋转平台(4)的转动轴心垂直,且所述第一旋转平台(2)的转动轴心和所述第二旋转平台(4)的转动轴心分别与所述底板(1)所在平面平行。
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H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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