[发明专利]物料分选方法及装置有效
| 申请号： | 201811216825.1 | 申请日： | 2018-10-18 |
| 公开（公告）号： | CN109261547B | 公开（公告）日： | 2020-11-03 |
| 发明（设计）人： | 桑浩;颜天信;唐麟;汪洪波 | 申请（专利权）人： | 合肥泰禾光电科技股份有限公司 |
| 主分类号： | B07C5/342 | 分类号： | B07C5/342;B07C5/36;B07C5/02 |
| 代理公司： | 北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙) 11371 | 代理人： | 王文红 |
| 地址： | 230000 安徽省合肥市经济技*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本发明涉及物料分选技术领域，具体涉及一种物料分选方法及装置，该方法及装置应用于物料分选系统，该物料分选系统包括传送带、扫描镜上位机以及光谱仪，该传送带用于传送物料，该扫描镜的每个镜面上均设置有预定凸起程度的凸起，该物料受外部光源照明发出漫反射光投射至扫描镜的凸起，并经凸起反射至光谱仪内设置的探测器，由所述上位机进行分析。进而该方法包括：接收凸起反射形成的光谱信号，判断该光谱信号是否异常，若异常，则所述上位机根据光谱信号确定扫描镜的旋转角度，进而根据旋转角度在预设的旋转角度与物料位置的映射表中确定物料位置，以剔除该物料位置上的物料。 | ||
| 搜索关键词： | 物料 分选 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种物料分选方法，其特征在于，所述方法应用于物料分选系统，所述物料分选系统包括传送带、扫描镜、上位机以及光谱仪，所述传送带用于传送物料，所述扫描镜的每个镜面上均设置有预定凸起程度的凸起，所述物料受外部光源照明发出漫反射光投射至所述扫描镜的凸起，并经所述凸起反射至所述光谱仪内设置的探测器，由所述上位机进行分析；接收所述凸起反射形成的光谱信号；判断所述光谱信号是否异常，若异常，则所述上位机根据所述光谱信号确定所述扫描镜的旋转角度；根据所述旋转角度在预设的旋转角度与物料位置的映射表中确定物料位置；剔除确定的所述物料位置上的物料。
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